直线光栅化与反走样算法研究及硬件实现
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 1. 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 计算机图形学概述 | 第15-17页 |
| 1.1.1 计算机图形学发展史 | 第15-16页 |
| 1.1.2 计算机图形学研究内容 | 第16-17页 |
| 1.2 光栅图形学 | 第17页 |
| 1.3 光栅扫描显示系统 | 第17-18页 |
| 1.4 课题简介 | 第18-20页 |
| 1.4.1 课题背景及意义 | 第18-19页 |
| 1.4.2 课题研究内容 | 第19页 |
| 1.4.3 章节安排 | 第19-20页 |
| 1.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 2. 直线光栅化算法和反走样技术 | 第21-30页 |
| 2.1 直线光栅化算法 | 第21-26页 |
| 2.1.1 数值微分法（DDA） | 第22-23页 |
| 2.1.2 中点画线法（MLDA） | 第23-24页 |
| 2.1.3 BRESENHAM 画线法 | 第24-26页 |
| 2.2 反走样技术 | 第26-29页 |
| 2.2.1 提高分辨率 | 第27页 |
| 2.2.2 超采样 | 第27-28页 |
| 2.2.3 随机采样 | 第28-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 3. 硬件实现及算法结构 | 第30-55页 |
| 3.1 直线预处理模块 | 第32-50页 |
| 3.1.1 直线对称变换子模块 | 第32-40页 |
| 3.1.2 矩形区域计算子模块 | 第40-43页 |
| 3.1.3 斜率计算子模块 | 第43-50页 |
| 3.2 直线绘制模块 | 第50-53页 |
| 3.2.1 遍历子模块 | 第50页 |
| 3.2.2 采样子模块 | 第50-53页 |
| 3.3 直线后处理模块 | 第53-54页 |
| 3.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 4. 仿真环境及测试结果 | 第55-71页 |
| 4.1 仿真环境框架 | 第55-58页 |
| 4.2 系统性能分析及测试方案 | 第58-60页 |
| 4.3 测试过程及测试结果 | 第60-66页 |
| 4.3.1 功能验证 | 第60-61页 |
| 4.3.2 性能测试 | 第61-66页 |
| 4.4 刻度盘画面绘制 | 第66-67页 |
| 4.5 硬件实现资源耗费统计 | 第67-69页 |
| 4.5.1 直线绘制模块资源耗费统计 | 第68页 |
| 4.5.2 除法模块资源耗费统计 | 第68-69页 |
| 4.5.3 采样模块资源耗费统计 | 第69页 |
| 4.5.4 资源耗费统计情况总结 | 第69页 |
| 4.6 本章小结 | 第69-71页 |
| 5. 结束语 | 第71-73页 |
| 5.1 论文总结 | 第71-72页 |
| 5.1.1 逻辑功能 | 第71页 |
| 5.1.2 性能指标 | 第71页 |
| 5.1.3 资源耗费 | 第71页 |
| 5.1.4 主要创新 | 第71-72页 |
| 5.2 研究展望 | 第72-73页 |
| 5.2.1 采用新算法 | 第72页 |
| 5.2.2 设计新架构 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第77页 |
