| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 强反射物体测量方法概述 | 第9-16页 |
| 1.2.1 接触式测量方法 | 第10-11页 |
| 1.2.2 非接触式测量方法 | 第11-15页 |
| 1.2.3 存在问题及分析 | 第15-16页 |
| 1.3 论文主要研究内容及章节安排 | 第16-18页 |
| 2 基于条纹反射法的强反射物体测量系统的设计 | 第18-28页 |
| 2.1 基于条纹反射法的强反射物体测量系统测量原理 | 第18-20页 |
| 2.2 系统框架图 | 第20页 |
| 2.3 测量系统硬件部分 | 第20-22页 |
| 2.3.1 投影系统 | 第20-21页 |
| 2.3.2 图像采集系统 | 第21-22页 |
| 2.4 测量系统软件部分 | 第22-27页 |
| 2.4.1 相位展开 | 第22-23页 |
| 2.4.2 系统标定 | 第23-24页 |
| 2.4.3 软件展示 | 第24-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 相位展开与光栅周期校正 | 第28-45页 |
| 3.1 相移算法 | 第28-30页 |
| 3.2 空间相位展开算法 | 第30-32页 |
| 3.3 时间相位展开算法 | 第32-38页 |
| 3.3.1 线性时间相位展开算法 | 第32-35页 |
| 3.3.2 指数时间相位展开算法 | 第35页 |
| 3.3.3 逆指数时间相位展开算法 | 第35-36页 |
| 3.3.4 部分其他典型时间相位展开算法 | 第36-38页 |
| 3.4 时间相位展开算法实验分析 | 第38-41页 |
| 3.5 光栅的周期校正 | 第41-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 4 测量系统的标定 | 第45-58页 |
| 4.1 摄像机标定 | 第45-51页 |
| 4.1.1 摄像机的成像模型 | 第45-47页 |
| 4.1.2 摄像机镜头畸变模型 | 第47-48页 |
| 4.1.3 摄像机标定实验 | 第48-51页 |
| 4.2 投影系统标定 | 第51-56页 |
| 4.3 三维点云重建 | 第56-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 5 强反射物体测量实验与分析 | 第58-63页 |
| 5.1 标准平面测量实验 | 第58-59页 |
| 5.2 台阶测量实验 | 第59-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 总结与展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |