摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
·前言 | 第10-11页 |
·水果缺陷检测技术的研究现状 | 第11-13页 |
·现行水果表面缺陷检测方法 | 第11-12页 |
·红外成像无损检测技术 | 第12-13页 |
·国内外水果缺陷红外无损检测技术的研究现状 | 第13-16页 |
·离线研究方面 | 第13-14页 |
·在线研究方面 | 第14-15页 |
·文献启示及关键问题 | 第15-16页 |
·本文的研究内容及重点 | 第16-17页 |
·论文的基本结构安排 | 第17页 |
·本章小结 | 第17-18页 |
第二章 红外检测技术基础 | 第18-25页 |
·红外光谱 | 第18-19页 |
·红外辐射理论 | 第19-22页 |
·黑体的基本辐射定律 | 第19-21页 |
·实际物体的辐射定律与发射率 | 第21-22页 |
·红外热成像检测技术 | 第22-24页 |
·光热红外成像技术 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第三章 苹果早期机械损伤红外热成像检测 | 第25-34页 |
·材料及方法 | 第25-29页 |
·研究对象及目的 | 第25-26页 |
·研究方法 | 第26-29页 |
·研究假设 | 第29页 |
·球面热辐射规律 | 第29-30页 |
·苹果表面机械损伤红外无损检测机理 | 第30-32页 |
·实验结果分析 | 第32-33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
第四章 基于传热分析的苹果早期机械损伤检测研究 | 第34-45页 |
·传热的基本概念 | 第34-35页 |
·基于传热学的苹果早期机械损伤检测理论分析 | 第35-37页 |
·苹果表面测温实验数据处理 | 第37-43页 |
·红外测温分析 | 第37-40页 |
·降温特性分析 | 第40-43页 |
·本章小结 | 第43-45页 |
第五章 基于红外图像处理技术的苹果早期机械损伤检测研究 | 第45-71页 |
·苹果红外热图像特征分析 | 第45-47页 |
·苹果红外热图像产生机理及特点 | 第45-46页 |
·苹果红外热图像直方图特点 | 第46-47页 |
·苹果红外热图像去噪处理 | 第47-48页 |
·基于Retinex 和直方图匹配技术的苹果红外热图像校正方法 | 第48-59页 |
·直方图匹配技术 | 第49-51页 |
·中心/环绕Retinex 算法 | 第51-55页 |
·结合SSR 算法和直方图匹配技术校正苹果红外热图像 | 第55-59页 |
·苹果表面缺陷检测 | 第59-68页 |
·缺陷阈值分割 | 第59-63页 |
·二值图像的数学形态学处理 | 第63-65页 |
·二值图像的缺陷边缘轮廓提取 | 第65-68页 |
·实验结果及分析 | 第68-70页 |
·本章小结 | 第70-71页 |
第六章 总结 | 第71-73页 |
·工作总结 | 第71-72页 |
·今后研究设想 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-78页 |
个人简历 在读期间发表的学术论文 | 第78-79页 |
致谢 | 第79页 |