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基于故障树和现场测试的EMC故障诊断方法

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-15页
第一章 绪论第15-21页
    1.1 研究背景和意义第15-18页
        1.1.1 电磁兼容故障树第15-16页
        1.1.2 电磁兼容测试第16-17页
        1.1.3 基于故障树的电磁兼容现场测试第17-18页
    1.2 本文的主要工作第18-21页
第二章 故障分析和故障树的建立第21-37页
    2.1 电磁兼容故障分析第21-26页
        2.1.1 电磁干扰源特性第21-22页
        2.1.2 干扰传播特性第22-23页
        2.1.3 敏感设备特性第23页
        2.1.4 电磁干扰分类第23-26页
    2.2 故障树分析法概述第26-27页
    2.3 电磁兼容故障树的建立第27-30页
    2.4 故障案例第30-37页
第三章 基于层次分析法的底事件故障概率计算方法第37-59页
    3.1 底事件故障概率的影响因素分析第37-41页
        3.1.1 基于统计数据的概率分析方法第37-38页
        3.1.2 基于上装设备特性的概率分析方法第38-39页
        3.1.3 基于上装设备的安装与布局分布的故障概率分析方法第39-41页
    3.2 故障影响因素量化方法第41-43页
    3.3 基于AHP的故障概率计算方法第43-50页
        3.3.2 递阶层次构造与成对比较法第43-48页
        3.3.3 一致性检验与权重计算第48-50页
        3.3.4 底事件故障概率的计算第50页
    3.4 算例第50-59页
第四章 电磁兼容故障树分析法第59-79页
    4.1 定性分析第59-62页
        4.1.1 上行法(Semanderes算法)第59-61页
        4.1.2 下行法(Fussell算法)第61-62页
    4.2 定量分析第62-64页
    4.3 案例分析第64-79页
        4.3.1 通信车电磁兼容故障树的定性分析第65-72页
        4.3.2 通信车电磁兼容故障树的定量分析第72-79页
第五章 电磁兼容现场测试第79-97页
    5.1 现场测试概述第79-81页
    5.2 测试硬件系统及其问题第81-87页
        5.2.1 电磁兼容测试硬件组成第81-82页
        5.2.2 电磁兼容测试关键问题及其解决方法第82-86页
        5.2.3 改进后的测试硬件组成第86-87页
    5.3 现场测试数据预处理第87-94页
        5.3.1 测试数据的消噪处理第87-93页
        5.3.2 环境背景信号的剔除第93-94页
    5.4 现场测试数据信息提取第94-97页
        5.4.1 峰值特征提取第94-95页
        5.4.2 包络信息提取第95-97页
第六章 总结与展望第97-99页
    6.1 全文总结第97页
    6.2 工作展望第97-99页
参考文献第99-103页
致谢第103-105页
作者简介第105-106页

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