嵌入式存储器在线容错技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| ·课题背景 | 第10-12页 |
| ·嵌入式存储器容错技术 | 第12-17页 |
| ·存储器容错技术难点 | 第13页 |
| ·嵌入式存储器离线测试 | 第13-16页 |
| ·嵌入式存储器在线测试 | 第16页 |
| ·嵌入式存储器修复技术 | 第16-17页 |
| ·国内外现状 | 第17-22页 |
| ·存储器离线测试现状 | 第17-19页 |
| ·存储器在线测试现状 | 第19-22页 |
| ·存储器修复技术现状 | 第22页 |
| ·本文的主要内容及论文结构 | 第22-24页 |
| 第2章 嵌入式存储器结构及故障模型 | 第24-38页 |
| ·嵌入式存储器分类 | 第24-26页 |
| ·只读存储器 | 第24页 |
| ·非易失性读写存储器 | 第24-25页 |
| ·随机存取存储器 | 第25-26页 |
| ·按顺序存取存储器 | 第26页 |
| ·闪存 | 第26页 |
| ·SRAM 结构模型 | 第26-27页 |
| ·存储器故障模型 | 第27-31页 |
| ·地址译码故障 | 第27-28页 |
| ·单一存储单元故障描述方法 | 第28-29页 |
| ·多单元故障 | 第29-31页 |
| ·嵌入式存储器故障模型仿真 | 第31-37页 |
| ·嵌入式存储器功能模型 | 第31-32页 |
| ·单一单元故障 | 第32-34页 |
| ·多单元故障 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 面向单一位故障的在线容错技术 | 第38-47页 |
| ·纠错码原理 | 第38-40页 |
| ·常见的纠错码简介 | 第38-39页 |
| ·汉明码编码译码原理 | 第39-40页 |
| ·传统的含有纠错码在线测试方法 | 第40页 |
| ·改进型面向单一故障的在线容错方法 | 第40-44页 |
| ·基于奇偶校验码检错的基本思路 | 第40-41页 |
| ·改进型检错纠错结构 | 第41-43页 |
| ·汉明码纠错模块设计 | 第43-44页 |
| ·仿真验证 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 基于透明BIST 的在线测试技术 | 第47-60页 |
| ·MBIST 技术 | 第47-50页 |
| ·MBIST 基本结构 | 第47-48页 |
| ·嵌入式存储器测试算法分析 | 第48-50页 |
| ·非并发性透明BIST 方案 | 第50-54页 |
| ·基本方法 | 第50-52页 |
| ·仿真验证及分析 | 第52-54页 |
| ·并发性透明BIST | 第54-59页 |
| ·传统方法及优缺点 | 第54页 |
| ·改进的并发性透明BIST 方法 | 第54-57页 |
| ·仿真验证 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第5章 嵌入式存储器内建自修复技术 | 第60-73页 |
| ·基于冗余字的MBISR 方案 | 第60-65页 |
| ·嵌入式存储器的修复策略 | 第60-62页 |
| ·MBISR 整体结构设计 | 第62-63页 |
| ·基于冗余字修复的BIRA 基本结构 | 第63-65页 |
| ·基于地址分割的BIRA 技术 | 第65-70页 |
| ·基于地址分割BISR 设计思路 | 第66-68页 |
| ·改进的电路结构 | 第68-70页 |
| ·仿真验证 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 结论 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-81页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
