Micro-CT工作电压电流及曝光时间设置范围研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·CT及Micro-CT简介 | 第10-12页 |
| ·课题来源及意义 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-14页 |
| ·文章研究内容及章节安排 | 第14-15页 |
| 第2章 微计算机断层成像技术 | 第15-27页 |
| ·Micro-CT工作原理 | 第15-16页 |
| ·X射线衰减 | 第15-16页 |
| ·成像原理 | 第16页 |
| ·Micro-CT系统结构 | 第16-21页 |
| ·X射线源 | 第17-19页 |
| ·X射线探测器 | 第19-20页 |
| ·机械扫描装置 | 第20-21页 |
| ·实验设备搭建 | 第21-26页 |
| ·极限空间分辨率 | 第21-22页 |
| ·X射线源及探测器 | 第22-24页 |
| ·机械机构 | 第24-26页 |
| ·Micro-CT系统重建算法 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 Micro-CT系统性能检测 | 第27-39页 |
| ·球管及探测器性能测试实验 | 第27-33页 |
| ·标准模型重建 | 第33-34页 |
| ·图像信号噪声分析 | 第34-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 Micro-CT系统成像实验 | 第39-50页 |
| ·Micro-CT图像质量评价指标 | 第39-41页 |
| ·空间分辨率影响因素 | 第39-40页 |
| ·密度分辨率影响因素 | 第40-41页 |
| ·成像对比实验设计 | 第41页 |
| ·空间分辨率成像实验 | 第41-46页 |
| ·曝光时间对照实验 | 第42-44页 |
| ·工作电流对照实验 | 第44-45页 |
| ·工作电压对照实验 | 第45页 |
| ·实验结果分析 | 第45-46页 |
| ·密度分辨率成像实验 | 第46-48页 |
| ·工作电压、电流对系统性能的影响 | 第48页 |
| ·结论 | 第48-50页 |
| 第5章 论文总结及展望 | 第50-52页 |
| ·论文工作总结 | 第50-51页 |
| ·工作展望 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
