晶体管温升测试的仿真评估
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-25页 |
·电力电子器件概述 | 第8-9页 |
·功率晶体管在UPS 中的作用 | 第9-11页 |
·晶体管的封装简介 | 第11-16页 |
·二极管为代表对晶体管进行研究的可行性分析 | 第16-19页 |
·温度对晶体管器件的影响及准确测量温度的意义 | 第19页 |
·工程上已有晶体管器件温度测量的方法 | 第19-20页 |
·温升测试的影响参数分析 | 第20-22页 |
·山特电子公司晶体管温度测量的方法 | 第22页 |
·本文研究目的及意义 | 第22-23页 |
·本文研究的主要内容 | 第23页 |
·本文研究的主要方法 | 第23-25页 |
2 实验研究方法 | 第25-34页 |
·研究平台分析 | 第25-26页 |
·实验原理 | 第26页 |
·实验对象和仪器的介绍 | 第26-29页 |
·实验步骤 | 第29-31页 |
·实验数据处理 | 第31-32页 |
·实验误差分析 | 第32-34页 |
3 建立仿真模型 | 第34-46页 |
·热分析软件简介 | 第34-37页 |
·icepak 程序结构和功能简介 | 第37-39页 |
·仿真模型建立 | 第39-43页 |
·模型修正及可靠性分析 | 第43-46页 |
4 温升测试准确性与其参数关系探索 | 第46-73页 |
·参数设置 | 第46-48页 |
·Tc、Tj 、Tp 以及分流Q的参数分析 | 第48-51页 |
·Tj-Tp 的参数分析 | 第51-69页 |
·Tp-Tc 的参数分析 | 第69-73页 |
5 二极管参数影响规律的推广分析 | 第73-75页 |
6 后续工作 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-79页 |