基于优化算法的半导体器件参数提取和S参数的自动化测试
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·引言 | 第11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·优化算法的研究意义 | 第13-14页 |
| ·论文的主要工作和组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 优化算法综述 | 第16-32页 |
| ·遗传算法 | 第16-18页 |
| ·遗传算法的基本理论 | 第16-17页 |
| ·遗传算法的特点 | 第17-18页 |
| ·模拟退火算法 | 第18-21页 |
| ·模拟退火算法的基本理论 | 第18-21页 |
| ·模拟退火算法的特点 | 第21页 |
| ·粒子群优化算法 | 第21-24页 |
| ·粒子群优化算法的基本理论 | 第21-24页 |
| ·粒子群优化算法的特点 | 第24页 |
| ·差分进化算法 | 第24-27页 |
| ·差分进化算法的基本理论 | 第25-27页 |
| ·差分进化算法的特点 | 第27页 |
| ·差分进化算法的改进 | 第27-30页 |
| ·改进算法的策略 | 第27-28页 |
| ·改进差分进化算法的效果测试 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 第三章 基于优化算法的半导体器件参数提取 | 第32-50页 |
| ·HEMT器件 | 第32-36页 |
| ·HMET器件简介 | 第32-34页 |
| ·HEMT器件的基本结构 | 第34页 |
| ·HEMT的工作原理 | 第34-36页 |
| ·HEMT器件小信号模型 | 第36-38页 |
| ·基于仿真数据的参数提取 | 第38-45页 |
| ·基于实验数据的参数提取 | 第45-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 S参数自动化测试的实现 | 第50-58页 |
| ·硬件平台搭建 | 第50-53页 |
| ·软件平台搭建 | 第53-57页 |
| ·软件流程 | 第53页 |
| ·程序设计 | 第53-55页 |
| ·程序实现 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·工作总结 | 第58页 |
| ·工作展望 | 第58-60页 |
| 附录 | 第60-63页 |
| 攻读硕士期间发表论文 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
