屏蔽方舱电磁兼容制造的关键技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·本文研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外电磁屏蔽方舱技术发展概况 | 第8-9页 |
| ·国外发展概况 | 第8页 |
| ·国内发展概况 | 第8-9页 |
| ·本论文的主要工作 | 第9-11页 |
| 第二章 电磁屏蔽方舱电磁干扰的抑制机理研究 | 第11-17页 |
| ·电磁屏蔽方舱的性能指标 | 第11页 |
| ·电磁屏蔽方舱的典型泄漏要素分析 | 第11-14页 |
| ·结构要素 | 第12-13页 |
| ·电路要素 | 第13-14页 |
| ·电磁屏蔽方舱的总体屏蔽效能模型 | 第14-15页 |
| ·电磁屏蔽方舱电磁泄漏的抑制难点 | 第15-17页 |
| 第三章 电磁屏蔽方舱典型要素的控制技术 | 第17-39页 |
| ·电磁屏蔽方舱的总体结构分析 | 第17-19页 |
| ·屏蔽门的电磁泄漏分析 | 第19-23页 |
| ·通风/显示窗口的电磁泄漏分析 | 第23-39页 |
| ·屏蔽观察窗 | 第23-26页 |
| ·波导通风窗 | 第26-29页 |
| ·通风窗的时效堵塞分析 | 第29-39页 |
| 第四章 电磁屏蔽方舱的电化学腐蚀效应 | 第39-57页 |
| ·腐蚀对方舱屏蔽效能的影响 | 第39-41页 |
| ·方舱腐蚀因素及电化学腐蚀机理 | 第41-43页 |
| ·方舱腐蚀因素 | 第41-42页 |
| ·电化学腐蚀机理 | 第42-43页 |
| ·电化学腐蚀速度的研究 | 第43-50页 |
| ·腐蚀速度的表示方法 | 第43-45页 |
| ·腐蚀速度的影响因素 | 第45-47页 |
| ·腐蚀速度的变化曲线 | 第47-49页 |
| ·屏蔽门的腐蚀速度算例 | 第49-50页 |
| ·电化学腐蚀阻抗的研究 | 第50-51页 |
| ·方舱制造及使用中的腐蚀控制 | 第51-57页 |
| ·方舱活动部件的腐蚀控制 | 第51-55页 |
| ·方舱非活动部件的腐蚀控制 | 第55-57页 |
| 第五章 整舱屏蔽效能测试与评价方法研究 | 第57-73页 |
| ·整舱屏蔽效能测试与评价方法的总体方案 | 第57-59页 |
| ·整舱屏蔽效能测试的影响因素 | 第57-58页 |
| ·整舱屏蔽效能测试与评价方法的基本思路 | 第58-59页 |
| ·整舱屏蔽效能测试与评价方法的具体实施 | 第59-68页 |
| ·低频段测试与评价方法 | 第60-62页 |
| ·谐振频段测试与评价方法 | 第62-64页 |
| ·高频段测试与评价方法 | 第64-68页 |
| ·整舱屏蔽效能测试与评价方法的验证分析 | 第68-73页 |
| ·验证方案 | 第68-70页 |
| ·验证结果及分析 | 第70-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
