| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第10-14页 |
| ·工业无损检测技术 | 第10-11页 |
| ·工业 X 射线检测技术发展现状 | 第11-14页 |
| ·论文研究的意义 | 第14页 |
| ·X 射线底片图像处理方法研究现状 | 第14-18页 |
| ·X 射线底片图像处理系统结构 | 第14-15页 |
| ·X 射线底片图像处理技术研究现状 | 第15-18页 |
| ·论文研究目的和内容安排 | 第18-20页 |
| ·研究目的 | 第18页 |
| ·内容安排 | 第18-20页 |
| 第二章 X 射线底片图像预处理方法及特性研究 | 第20-34页 |
| ·X 射线底片图像的降噪分析 | 第20-26页 |
| ·X 射线底片图像的噪声分析 | 第20-21页 |
| ·X 射线底片图像降噪方法研究 | 第21-26页 |
| ·X 射线底片图像增强方法研究 | 第26-32页 |
| ·基于直方图的图像增强方法研究 | 第27-29页 |
| ·基于灰度变换的图像增强方法研究 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 X 射线底片图像缺陷检测与分割方法研究 | 第34-47页 |
| ·X 射线底片图像的缺陷边缘检测方法研究 | 第34-40页 |
| ·灰度图像边缘的梯度度量 | 第34-35页 |
| ·基于梯度模板的缺陷边缘检测方法研究 | 第35-38页 |
| ·基于 Canny 准则的缺陷边缘检测方法研究 | 第38-40页 |
| ·X 射线底片图像的阈值分割方法研究 | 第40-45页 |
| ·最大类间方差法缺陷分割方法研究 | 第41-43页 |
| ·一维最大熵法缺陷分割方法研究 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 基于数学形态学的 X 射线底片图像缺陷提取方法研究 | 第47-58页 |
| ·结构元素的设计原则及影响分析 | 第47-48页 |
| ·形态学图像处理的基本运算定义及其特性分析 | 第48-54页 |
| ·二值图像腐蚀和膨胀的定义和特性分析 | 第48-51页 |
| ·灰度图像腐蚀和膨胀的定义和特性分析 | 第51-53页 |
| ·形态学开闭运算的定义和特性分析 | 第53-54页 |
| ·形态学边缘检测的思想及方法 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 X 射线底片图像缺陷检测系统设计与实验 | 第58-69页 |
| ·底片图像的数字化系统 | 第58-61页 |
| ·CCD 相机的选择和参数 | 第58-60页 |
| ·背光源的选择 | 第60页 |
| ·底片图像数字化系统搭建 | 第60-61页 |
| ·X 射线底片图像缺陷提取与分割的方案与实验 | 第61-68页 |
| ·基于 Otsu 的 Canny 自适应缺陷提取 | 第62-65页 |
| ·基于形态学梯度的缺陷提取 | 第65-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结 | 第69-71页 |
| ·本文主要内容和成果 | 第69-70页 |
| ·展望 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |