| 中文摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-23页 |
| ·目的与意义 | 第9-11页 |
| ·基于 IGBT 器件的功率变流装置可靠性相关研究综述 | 第11-21页 |
| ·功率变流装置可靠性相关研究概况 | 第11-13页 |
| ·IGBT 器件可靠性研究现状 | 第13-20页 |
| ·目前存在的主要问题 | 第20-21页 |
| ·论文研究的主要内容 | 第21-23页 |
| 2 IGBT 器件缺陷概念的提出与离线诊断 | 第23-35页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·IGBT 器件的缺陷形式 | 第23-26页 |
| ·IGBT 器件缺陷对其杂散参数的影响分析 | 第26-31页 |
| ·IGBT 器件缺陷影响的范围分析 | 第26-27页 |
| ·IGBT 器件杂散电感和电阻参数提取 | 第27-30页 |
| ·IGBT 器件杂散参数网络增益随缺陷的变化 | 第30-31页 |
| ·频率响应分析法离线诊断 IGBT 器件缺陷 | 第31-34页 |
| ·思路 | 第31页 |
| ·实验研究 | 第31-34页 |
| ·结论 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 3 IGBT 器件缺陷辨识的特征量分析 | 第35-57页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·门极电路杂散参数的构成分析 | 第35-41页 |
| ·IGBT 芯片结构简介 | 第35-38页 |
| ·门极电路的杂散参数组成 | 第38-41页 |
| ·IGBT 器件门极电路与主电路的耦合分析 | 第41-42页 |
| ·IGBT 器件缺陷特征量门极电压和电流的提取 | 第42-44页 |
| ·IGBT 器件缺陷对特征量的影响 | 第44-48页 |
| ·实验研究 | 第48-55页 |
| ·分时线性化效果及结温影响的实验分析 | 第50-51页 |
| ·缺陷对特征量影响的实验分析 | 第51-54页 |
| ·缺陷和结温对 IGBT 器件集-射极饱和压降影响的实验研究 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 4 基于门极电路动态变化的 IGBT 缺陷辨识方法 | 第57-81页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·基于参数辨识的 IGBT 器件缺陷辨识 | 第57-59页 |
| ·基于门极电压动态变化的 IGBT 缺陷辨识 | 第59-73页 |
| ·采用小波分析法诊断 IGBT 器件缺陷 | 第59-62页 |
| ·采用 Fréchet 距离诊断 IGBT 器件缺陷 | 第62-64页 |
| ·采用时间序列 DTW 差异诊断 IGBT 器件缺陷 | 第64-66页 |
| ·采用近似熵理论诊断 IGBT 器件缺陷 | 第66-70页 |
| ·采用功率谱密度诊断 IGBT 器件缺陷 | 第70-72页 |
| ·以门极电压动态变化为特征量的缺陷辨识方法对比分析 | 第72-73页 |
| ·基于门极电流动态变化的 IGBT 缺陷辨识 | 第73-77页 |
| ·实验研究 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-81页 |
| 5 IGBT 器件状态预测和实时故障率初探 | 第81-105页 |
| ·引言 | 第81页 |
| ·基于灰色 GM(1,1)模型的 IGBT 器件状态预测 | 第81-88页 |
| ·IGBT 器件缺陷发展特征量的提取 | 第81-84页 |
| ·IGBT 器件的灰色 GM(1,1)状态预测模型的实现 | 第84-86页 |
| ·实验研究 | 第86-88页 |
| ·基于 POF 的 IGBT 器件实时故障率 | 第88-102页 |
| ·IGBT 器件损耗计算方法的改进 | 第88-93页 |
| ·IGBT 器件实时故障率建模 | 第93-100页 |
| ·风力发电中 IGBT 器件故障率算例分析 | 第100-102页 |
| ·本章小结 | 第102-105页 |
| 6 全文总结 | 第105-107页 |
| 致谢 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-119页 |
| 附录 | 第119-120页 |
| A.作者在攻读博士学位期间发表的论文 | 第119页 |
| B.作者在攻读博士学位期间参研的科学项目 | 第119-120页 |
