摘要 | 第1-9页 |
ABSTRACT | 第9-11页 |
第一部分 文献综述 | 第11-46页 |
第一章 分子标记和遗传图谱的构建 | 第11-30页 |
1 分子标记及其应用 | 第11-15页 |
·基于Southern杂交的标记 | 第11-12页 |
·基于PCR的分子标记 | 第12-13页 |
·新型分子标记 | 第13-15页 |
2. 分子标记的应用 | 第15-18页 |
·遗传图谱的构建和基因的定位 | 第16页 |
·分子标记辅助选择 | 第16-18页 |
·种子纯度和真实性的的鉴定 | 第18页 |
3 基因定位和QTL分析 | 第18-22页 |
·QTL定位的垂本原理 | 第18-19页 |
·QTL检测的方法 | 第19-21页 |
·分离体分组混合法 | 第21页 |
·精细作图和近等基因系 | 第21-22页 |
4. 标记遗传连锁图谱的构建 | 第22页 |
·标记连锁图构建的原理 | 第22页 |
·作图群体 | 第22页 |
5 遗传作图中的标记偏分离和偏分离座位的定位 | 第22-25页 |
·偏分离及其原因 | 第22-23页 |
·偏分离与群体类型 | 第23页 |
·偏分离与标记类型 | 第23页 |
·偏分离座位的定位 | 第23-24页 |
·水稻中的偏分离因子 | 第24页 |
·偏分离与QTL定位 | 第24-25页 |
参考文献 | 第25-30页 |
第二章 水稻耐冷性状的遗传研究和QTL定位 | 第30-46页 |
1 水稻的冷害概况和分类 | 第30-31页 |
·水稻的冷害概况 | 第30页 |
·水稻冷害的分类 | 第30-31页 |
2 水稻冷害和耐冷的机制 | 第31-33页 |
·膜的伤害 | 第31-32页 |
·活性氧和自由基 | 第32-33页 |
·水稻的冷适应 | 第33页 |
3 水稻耐冷性的鉴定 | 第33-36页 |
·发芽期耐冷性的鉴定 | 第33-34页 |
·芽期耐冷性鉴定 | 第34页 |
·水稻苗期耐冷性的鉴定 | 第34-36页 |
4 耐冷性的遗传研究和QTL定位 | 第36-43页 |
·耐低温发芽的遗传研究 | 第36-38页 |
·芽期耐冷性的遗传研究 | 第38-39页 |
·水稻苗期耐冷性的遗传研究 | 第39-43页 |
参考文献 | 第43-46页 |
第二部分 研究报告 | 第46-88页 |
第三章 水稻RIL群体SSR连锁图谱的构建及SDL(SEGREGATION DISTORTION LOCI)的定位 | 第46-65页 |
1 材料与方法 | 第48-51页 |
·植物材料 | 第48页 |
·DNA的提取 | 第48-49页 |
·SSR标记检测 | 第49-50页 |
·分子连锁图谱的构建 | 第50-51页 |
·偏分离检测 | 第51页 |
·遗传图谱的调整和SDL的定位 | 第51页 |
2 结果与分析 | 第51-58页 |
·分子连锁图谱的构建 | 第51-54页 |
·标记的偏分离 | 第54-55页 |
·分子连锁图谱的调整 | 第55-57页 |
·偏分离座位(SDL)的定位 | 第57-58页 |
3 讨论 | 第58-62页 |
·SSR标记和遗传作图 | 第58-59页 |
·群体的构建与遗传作图 | 第59-60页 |
·偏分离及其原因 | 第60-61页 |
·偏分离对作图的影响 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-65页 |
第四章 水稻苗期耐冷性QTL的定位分析 | 第65-78页 |
1 材料和方法 | 第67-69页 |
·植物材料 | 第67-68页 |
·苗期耐冷性鉴定 | 第68-69页 |
·苗期耐冷性 QTL的分析 | 第69页 |
2 结果分析 | 第69-72页 |
·亲本和家系的苗期耐冷性 | 第69-70页 |
·苗期耐冷性的QTL分析 | 第70-72页 |
3 讨论 | 第72-75页 |
·耐冷鉴定方法与QTL定位 | 第72页 |
·耐冷性的遗传 | 第72-73页 |
·耐冷性QTL的比较 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
第五章 水稻低温发芽力的QTL定位分析 | 第78-88页 |
1 材料和方法 | 第79-80页 |
·材料 | 第79-80页 |
·低温发芽的鉴定 | 第80页 |
·QTL分析 | 第80页 |
2 结果分析 | 第80-83页 |
·表型分析 | 第80-82页 |
·低温发芽力QTL的检测 | 第82-83页 |
3 讨论 | 第83-85页 |
·水稻低温发芽力的鉴定 | 第83页 |
·水稻低温发芽力QTL的比较和分析 | 第83-85页 |
·水稻低温发芽力QTL的时空表达 | 第85页 |
·水稻低温发芽力QTL定位的意义 | 第85页 |
参考文献 | 第85-88页 |
全文结论 | 第88-89页 |
致谢 | 第89页 |