用于微流控芯片的落射荧光检测技术研究
| 第一章 绪论 | 第1-17页 |
| ·微流控芯片概述 | 第7-10页 |
| ·微流控芯片的特点 | 第8-9页 |
| ·微流控芯片的应用领域及发展现状 | 第9-10页 |
| ·微流控芯片检测技术 | 第10-15页 |
| ·光学检测 | 第10-12页 |
| ·电化学检测 | 第12页 |
| ·质谱检测 | 第12-13页 |
| ·微流控芯片检测技术的发展现状 | 第13-15页 |
| ·结论 | 第15页 |
| ·本课题的主要研究内容以及意义 | 第15-17页 |
| 第二章 光学设计 | 第17-29页 |
| ·荧光检测原理 | 第17-18页 |
| ·荧光的概念 | 第17页 |
| ·产生荧光的物理过程 | 第17页 |
| ·荧光物质的结构特点 | 第17-18页 |
| ·检测系统光学系统构成 | 第18-24页 |
| ·光源的选择 | 第22页 |
| ·滤光、聚焦部分的组成 | 第22-24页 |
| ·光具座结构设计 | 第24-29页 |
| 第三章 电路系统硬件设计 | 第29-40页 |
| ·微弱信号检测 | 第29-30页 |
| ·光电接收系统 | 第30-37页 |
| ·光电二极管放大电路设计 | 第30-34页 |
| ·光电二极管噪声分析 | 第34-37页 |
| ·接口部分设计 | 第37-40页 |
| ·MAX191 接口设计 | 第37-40页 |
| 第四章 系统软件设计 | 第40-47页 |
| ·单片机软件设计 | 第40-42页 |
| ·单片机程序的总体设计 | 第40-42页 |
| ·PC 机程序设计 | 第42-47页 |
| ·Delphi 中MSComm 控件 | 第42-45页 |
| ·Delphi 中Tchart 控件 | 第45页 |
| ·程序流程以及功能 | 第45-47页 |
| 第五章 实验结果和分析 | 第47-58页 |
| ·荧光检测系统对荧光染料进行检测 | 第47-49页 |
| ·实验结果及其分析 | 第49-58页 |
| ·实验结果 | 第49-50页 |
| ·实验数据分析 | 第50-53页 |
| ·实验装置性能分析 | 第53-56页 |
| ·实验装置整体分析 | 第56-58页 |
| 第六章 系统优化展望 | 第58-61页 |
| ·整体结构的优化调整 | 第58页 |
| ·光路部分的优化 | 第58-59页 |
| ·电路部分的优化 | 第59-60页 |
| ·展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
