第一章 绪论 | 第1-19页 |
§1-1 热电转换的历史回顾与发展现状 | 第7-8页 |
§1-2 热电发电器的工作原理 | 第8-10页 |
1-2-1 Seebeck效应 | 第8-9页 |
1-2-2 热电发电器的转换效率 | 第9-10页 |
§1-3 热电材料的主要研究进展 | 第10-12页 |
§1-4 SiGe合金的热电转换性能及研究进展 | 第12-17页 |
1-4-1 SiGe合金的基本物理性质 | 第12页 |
1-4-2 SiGe合金的主要制备方法 | 第12-14页 |
1-4-3 SiGe合金的迁移率 | 第14-15页 |
1-4-4 SiGe合金的热导率和Seebeck系数 | 第15-16页 |
1-4-5 SiGe合金中的掺杂 | 第16页 |
1-4-6 降低SiGe合金热导率的途径 | 第16-17页 |
§1-5 论文的主要研究内容 | 第17-19页 |
第二章 SiGe单晶的FTIR光谱研究 | 第19-31页 |
§2-1 红外吸收光谱仪基本原理 | 第19-21页 |
2-1-1 仪器原理 | 第19-20页 |
2-1-2 仪器特点 | 第20-21页 |
§2-2 实验过程 | 第21页 |
§2-3 Ge对单晶Si中间隙氧含量的影响 | 第21-22页 |
§2-4 Ge对单晶Si红外吸收峰的影响 | 第22-26页 |
2-4-1 Ge对间隙氧吸收峰的影响 | 第23-25页 |
2-4-2 Ge诱发的新吸收峰 | 第25-26页 |
§2-5 FTIR测定Si单晶中的Ge含量 | 第26-30页 |
2-5-1 α_(max)的求法 | 第27-28页 |
2-5-2 半峰宽W_(12)的求法 | 第28页 |
2-5-3 转换因子计算 | 第28-29页 |
2-5-4 误差分析 | 第29-30页 |
§2-6 小结 | 第30-31页 |
第三章 热电参数测试装置研制 | 第31-42页 |
§3-1 Seebeck系数测试装置 | 第31-34页 |
3-1-1 Seebeck系数测试原理 | 第31-32页 |
3-1-2 测试装置设计 | 第32-33页 |
3-1-3 误差分析 | 第33-34页 |
§3-2 热导率测量装置 | 第34-40页 |
3-2-1 不良导体热导率的阶跃函数式加热法测量 | 第34-36页 |
3-2-2 测试装置设计 | 第36-38页 |
3-2-3 修正系数的计算 | 第38-40页 |
§3-3 电阻率测试 | 第40-42页 |
3-3-1 四探针法测量电阻率 | 第40-41页 |
3-3-2 误差分析 | 第41-42页 |
第四章 SiGe合金热电转换性能的研究 | 第42-52页 |
§4-1 SiGe合金的制备 | 第42-43页 |
§4-2 SiGe合金Seebeck系数的测试 | 第43-45页 |
§4-3 SiGe合金热导率的测试 | 第45-48页 |
§4-4 SiGe合金电阻率的测试 | 第48-50页 |
§4-5 SiGe合金温差电优值的测试 | 第50页 |
§4-6 小结 | 第50-52页 |
第五章 结论 | 第52-53页 |
参考文献 | 第53-57页 |
致谢 | 第57-58页 |
攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第58页 |