微处理器体系结构级测试程序自动生成关键技术研究
| 目录 | 第1-7页 |
| 插图索引 | 第7-8页 |
| 表格索引 | 第8-9页 |
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| §1．1 研究背景 | 第12-13页 |
| §1．2 相关研究 | 第13-18页 |
| 1．2．1 测试程序自动生成方法 | 第13-14页 |
| 1．2．2 体系结构描述语言 | 第14-16页 |
| 1．2．3 约束满足问题 | 第16-18页 |
| §1．3 研究目标 | 第18-19页 |
| §1．4 主要工作与研究成果 | 第19-20页 |
| §1．5 论文结构 | 第20-21页 |
| 第二章 MA~2TG系统的总体设计 | 第21-28页 |
| §2．1 系统的特点分析 | 第21页 |
| §2．2 测试程序生成框架及流程 | 第21-22页 |
| §2．3 VADL描述 | 第22-23页 |
| §2．4 体系结构特征配置文件(ACF) | 第23-24页 |
| §2．5 指令模板库(ITL) | 第24页 |
| §2．6 约束描述语言及实例 | 第24-26页 |
| §2．7 约束编译器 | 第26-27页 |
| §2．8 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 约束编译器的设计 | 第28-36页 |
| §3．1 测试程序生成约束满足问题 | 第28-29页 |
| §3．2 约束建模策略 | 第29-31页 |
| §3．3 约束编译流程 | 第31-33页 |
| §3．4 特殊指令预处理 | 第33-35页 |
| §3．5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 VADL语言 | 第36-49页 |
| §4．1 EXPRESSION ADL建模分析 | 第36-37页 |
| §4．2 VADL概述 | 第37-39页 |
| §4．3 语言的组织结构 | 第39-47页 |
| 4．3．1 指令描述 | 第39-42页 |
| 4．3．2 初始化操作数的指令组合描述 | 第42页 |
| 4．3．3 指令映射 | 第42-43页 |
| 4．3．4 存储器子系统 | 第43-46页 |
| 4．3．5 数据冲突描述 | 第46-47页 |
| §4．4 对异常的支持 | 第47页 |
| §4．5 对功能验证需求的支持 | 第47-48页 |
| §4．6 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 VADL编译器的设计与实现 | 第49-59页 |
| §5．1 VADL编译器的实现 | 第49-52页 |
| §5．2 中间代码的组织 | 第52页 |
| §5．3 体系结构特征配置文件 | 第52-55页 |
| 5．3．1 ACF的设计 | 第53-55页 |
| 5．3．2 ACF的组织 | 第55页 |
| §5．4 指令模板库 | 第55-58页 |
| 5．4．1 指令类 | 第56-57页 |
| 5．4．2 指令组合类 | 第57页 |
| 5．4．3 验证问题类 | 第57-58页 |
| §5．5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 MA~2TG系统应用实例 | 第59-66页 |
| §6．1 DLX测试程序生成实例 | 第59-61页 |
| §6．2 验证框架 | 第61-62页 |
| §6．3 实验结果 | 第62-64页 |
| §6．4 实例研究 | 第64-65页 |
| §6．5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第七章 结束语 | 第66-67页 |
| §7．1 全文工作总结 | 第66页 |
| §7．2 工作展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录A: VADL的BNF范式 | 第68-73页 |
| A．1 指令描述部分 | 第68-70页 |
| A．2 初始化寄存器操作数的指令组合描述部分 | 第70页 |
| A．3 指令映射部分 | 第70页 |
| A．4 存储子系统描述部分 | 第70-71页 |
| A．5 数据冲突描述部分 | 第71-73页 |
| 附录B: 攻读硕士期间发表的论文 | 第73-74页 |
| 附录C: 攻读硕士期间参加的科研项目 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
