光纤寄生偏振耦合白光干涉仪光学系统设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| ·本论文研究目的及意义 | 第9-10页 |
| ·保偏光纤的介绍 | 第10-14页 |
| ·保偏光纤的特性和主要参数 | 第10-11页 |
| ·保偏光纤的分类 | 第11-12页 |
| ·影响保偏光纤性能的因素 | 第12-14页 |
| ·白光干涉测量的发展及应用 | 第14-16页 |
| ·白光干涉测量法的优点 | 第14-15页 |
| ·白光干涉测量的发展 | 第15-16页 |
| ·白光干涉测量法的应用 | 第16页 |
| ·本文主要工作及内容 | 第16-18页 |
| 第二章 宽谱光源相干性分析 | 第18-30页 |
| ·光源相干性的分析 | 第18-26页 |
| ·影响相干性的因素 | 第18-19页 |
| ·时间相干性的衡量及谱宽对时间相干性的影响 | 第19-26页 |
| ·谱宽对干涉的影响 | 第26-29页 |
| 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 光纤寄生偏振耦合测试仪的系统原理 | 第30-51页 |
| ·光纤寄生耦合测试仪的系统结构 | 第30-34页 |
| ·白光干涉仪基本结构 | 第30-31页 |
| ·光纤寄生偏振耦合测试仪的基本构成 | 第31-33页 |
| ·光纤寄生偏振耦合测试仪的结构 | 第33-34页 |
| ·光纤寄生偏振耦合测试仪的原理 | 第34-38页 |
| ·基本测试原理 | 第34-36页 |
| ·耦合点位置及耦合强度的计算 | 第36-38页 |
| ·偏振态控制原理 | 第38-43页 |
| ·偏振态控制装置 | 第39-40页 |
| ·偏振态转角对耦合强度测量的影响 | 第40-41页 |
| ·偏振态控制原理 | 第41-43页 |
| ·电路设计要求 | 第43-48页 |
| ·电路的总体设计原则 | 第43-44页 |
| ·偏振态调整数据采集电路设计要求 | 第44-45页 |
| ·干涉场扫描数据采集电路设计要求 | 第45-47页 |
| ·FPGA控制电路设计 | 第47-48页 |
| ·数据处理概述 | 第48-50页 |
| ·数据处理的目的 | 第48-49页 |
| ·数据处理过程 | 第49-50页 |
| 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 光学系统设计 | 第51-73页 |
| ·光学系统设计总体概述 | 第51-52页 |
| ·光源的选择 | 第52-53页 |
| ·光源类型的选择 | 第52页 |
| ·光源谱宽的计算 | 第52-53页 |
| ·扩束与聚光系统的设计 | 第53-58页 |
| ·模场直径 | 第54-55页 |
| ·光束远场发散角的计算 | 第55-56页 |
| ·扩束透镜焦距的计算 | 第56-57页 |
| ·聚光系统的设计 | 第57-58页 |
| ·半波片的选择 | 第58-59页 |
| ·偏振棱镜的设计 | 第59-64页 |
| ·棱镜的组合方式及光轴的取向 | 第59-61页 |
| ·棱镜切割角的选取 | 第61-62页 |
| ·棱镜的尺寸设计 | 第62页 |
| ·空气隙厚度的选取 | 第62-64页 |
| ·干涉仪臂长的影响 | 第64-66页 |
| ·干涉仪光学系统像差的要求及估算 | 第66-72页 |
| ·干涉仪光学系统像差的要求 | 第66页 |
| ·光学系统波像差的估算 | 第66-71页 |
| ·平面系统的波像差估算 | 第67页 |
| ·扩束与聚光系统的波像差估算 | 第67-71页 |
| ·光学系统像差的验算 | 第71-72页 |
| 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 实验数据与结果 | 第73-80页 |
| ·实验方案 | 第73-74页 |
| ·实验数据及处理结果 | 第74-79页 |
| 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 工作总结与展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-87页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文及科研情况说明 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
