氧化物透明导电薄膜的溶胶—凝胶法制备
第一章 文献综述 | 第1-19页 |
1.1 透明薄膜材料概述 | 第8页 |
1.2 氧化物透明导电薄膜 | 第8-14页 |
1.2.1 应用 | 第8-10页 |
1.2.2 制备方法与研究进展 | 第10-14页 |
1.3 溶胶-凝胶(Sol-Gel)法 | 第14-16页 |
1.3.1 基本原理 | 第14-16页 |
1.3.2 溶胶-凝胶法特点 | 第16页 |
1.4 结论 | 第16-19页 |
第二章 实验方法 | 第19-24页 |
2.1 绪言 | 第19页 |
2.2 掺杂剂的选择 | 第19-20页 |
2.3 研究思路 | 第20-21页 |
2.4 实验设备及实验方法 | 第21-24页 |
第三章 SnO_2透明导电薄膜 | 第24-46页 |
3.1 绪言 | 第24页 |
3.2 实验方法 | 第24-27页 |
3.3 实验结果及分析 | 第27-44页 |
3.3.1 SnO_2溶胶的配置 | 第27-28页 |
3.3.2 锑掺杂SnO_2透明导电薄膜 | 第28-32页 |
3.3.3 氟掺杂SnO_2透明导电薄膜 | 第32-35页 |
3.3.4 磷掺杂SnO_2透明导电薄膜 | 第35-42页 |
3.3.5 凝胶薄膜的FT-IR分析 | 第42-43页 |
3.3.6 薄膜的X-ray衍射分析 | 第43-44页 |
3.4 结论 | 第44-46页 |
第四章 ITO透明导电薄膜 | 第46-61页 |
4.1 绪言 | 第46-47页 |
4.2 实验方法 | 第47-49页 |
4.2.1 实验过程 | 第47-49页 |
4.2.2 实验试剂 | 第49页 |
4.3 实验结果及分析 | 第49-60页 |
4.3.1 ITO溶胶的配置 | 第49-51页 |
4.3.2 热处理 | 第51-52页 |
4.3.3 Sn掺杂的研究 | 第52-54页 |
4.3.4 溶剂对薄膜性能的影响 | 第54-56页 |
4.3.5 气氛保护热处理 | 第56-58页 |
4.3.6 凝胶薄膜的FT-IR分析 | 第58-59页 |
4.3.7 薄膜的XRD分析 | 第59-60页 |
4.4 结论 | 第60-61页 |
第五章 结论 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-69页 |
附录 | 第69-71页 |
作者在硕士期间撰写和发表的论文 | 第71页 |