摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
1 引言 | 第8-19页 |
·溶胶—凝胶法 | 第8页 |
·自组装 | 第8-13页 |
·自组装薄膜 | 第9-11页 |
·基于化学吸附的自组装膜技术(SA) | 第9页 |
·基于物理静电吸附的离子自组装膜技术(ISAM) | 第9-11页 |
·自组装介孔材料 | 第11-13页 |
·自组装介孔材料的形成机理 | 第11-12页 |
·国内外自组装介孔材料研究进展 | 第12页 |
·介孔材料的应用 | 第12-13页 |
·表面活性剂模板对自组装的影响 | 第13-15页 |
·表面活性剂的类型 | 第14页 |
·表面活性剂与氧化物的作用机理 | 第14-15页 |
·本实验的研究特点及内容 | 第15-19页 |
·自组装SiO_2纳米薄膜及SiO_2/TiO_2复合薄膜的研究进展 | 第17页 |
·本课题的研究目的及内容 | 第17-19页 |
·本文的研究内容 | 第18页 |
·本文的研究特色 | 第18-19页 |
2 空气—水界面自组装SiO_2纳米薄膜的制备及表征 | 第19-30页 |
·实验基本概况 | 第19-21页 |
·实验所用试剂 | 第19页 |
·实验用仪器设备 | 第19-20页 |
·X射线衍射(XRD) | 第20页 |
·红外光谱(FT-IR) | 第20页 |
·紫外光谱(UV) | 第20页 |
·热重—热差分析(TG-DTA) | 第20页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第20-21页 |
·透射电子显微镜(TEM)和高分辨率透射电镜(HRTEM) | 第21页 |
·能谱(EDS) | 第21页 |
·拉曼光谱(Raman Spectrography) | 第21页 |
·电化学工作站 | 第21页 |
·SiO_2空气—水界面膜的制备与表征 | 第21-27页 |
·薄膜的制备 | 第21-22页 |
·SiO_2薄膜的表征分析 | 第22-27页 |
·XRD表征分析 | 第22-24页 |
·FT-IR表征分析 | 第24页 |
·SEM表征分析 | 第24-25页 |
·EDS表征分析 | 第25页 |
·TEM表征分析 | 第25-26页 |
·TG热分析 | 第26-27页 |
·小结 | 第27页 |
·SiO_2薄膜的自组装机理 | 第27-28页 |
·本章小结 | 第28-30页 |
3 纳米SiO_2薄膜自组装中各影响条件分析 | 第30-50页 |
·表面活性剂对成膜的影响 | 第31-41页 |
·表面活性剂浓度对成膜的影响 | 第31-36页 |
·实验步骤 | 第33页 |
·实验分析 | 第33-36页 |
·小结 | 第36页 |
·表面活性剂链长对成膜的影响 | 第36-41页 |
·实验步骤 | 第36-37页 |
·实验表征分析 | 第37-41页 |
·小结 | 第41页 |
·酸碱度对成膜的影响 | 第41-43页 |
·实验步骤 | 第41页 |
·实验表征分析 | 第41-43页 |
·小结 | 第43页 |
·明胶对成膜的影响 | 第43-48页 |
·实验步骤 | 第45-46页 |
·实验表征分析 | 第46-48页 |
·小结 | 第48页 |
·本章小结 | 第48-50页 |
4 空气—水界面自组装SiO_2/TiO_2纳米复合薄膜制备、表征及性能 | 第50-70页 |
·SiO_2/TiO_2复合薄膜制备及结构分析 | 第50-57页 |
·实验步骤 | 第51页 |
·实验表征分析 | 第51-56页 |
·SiO_2/TiO_2复合薄膜反应机理 | 第56-57页 |
·小结 | 第57页 |
·SiO_2的含量对复合薄膜显微结构的影响 | 第57-63页 |
·不同含量复合薄膜FT-IR分析 | 第58-59页 |
·不同含量复合薄膜SEM图 | 第59-60页 |
·不同含量复合薄膜的热处理分析 | 第60-63页 |
·SiO_2/TiO_2复合薄膜性能分析 | 第63-68页 |
·试验步骤 | 第63页 |
·电化学性能分析 | 第63-65页 |
·SiO_2/TiO_2复合薄膜光学性能分析 | 第65-68页 |
·小结 | 第68页 |
·本章小结 | 第68-70页 |
结论 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
致谢 | 第76页 |