高岭土合成分子筛
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·分子筛 | 第10页 |
| ·分子筛的应用 | 第10-11页 |
| ·分子筛的合成 | 第11-16页 |
| ·成核机理 | 第11-12页 |
| ·制备原料 | 第12-15页 |
| ·制备工艺 | 第15-16页 |
| ·本论文的研究目的意义及内容 | 第16-19页 |
| ·研究意义 | 第16-17页 |
| ·研究内容 | 第17页 |
| ·技术路线 | 第17-18页 |
| ·研究方法 | 第18-19页 |
| 第二章 实验试剂与仪器 | 第19-24页 |
| ·试剂与仪器 | 第19-20页 |
| ·评价内容与方法 | 第20-22页 |
| ·白度 | 第20页 |
| ·钙离子吸附量 | 第20-21页 |
| ·pH 值 | 第21-22页 |
| ·灼烧失重 | 第22页 |
| ·静态饱和吸水量 | 第22页 |
| ·样品表征 | 第22-24页 |
| ·X 射线荧光光谱分析 | 第22-23页 |
| ·差示扫描量热分析 | 第23页 |
| ·XRD 分析 | 第23页 |
| ·红外光谱分析 | 第23页 |
| ·扫描电镜分析 | 第23页 |
| ·比表面积分析 | 第23-24页 |
| 第三章 偏高岭土的制备 | 第24-33页 |
| ·引言 | 第24-25页 |
| ·实验原料 | 第25-27页 |
| ·高岭土预处理 | 第25页 |
| ·高岭土化学成分 | 第25页 |
| ·高岭土差示扫描量热分析 | 第25-26页 |
| ·高岭土热重分析 | 第26-27页 |
| ·实验部分 | 第27页 |
| ·实验方案 | 第27页 |
| ·偏高岭土的制备 | 第27页 |
| ·结果与讨论 | 第27-29页 |
| ·煅烧温度对高岭土的影响 | 第27-28页 |
| ·煅烧时间对高岭土的影响 | 第28-29页 |
| ·最佳工艺条件 | 第29页 |
| ·偏高岭土的表征 | 第29-32页 |
| ·XRD 分析 | 第29-30页 |
| ·FT-IR 分析 | 第30-32页 |
| ·SEM 分析 | 第32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第四章 4A 分子筛的合成研究 | 第33-42页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·实验部分 | 第33-35页 |
| ·实验原料 | 第33页 |
| ·实验方案 | 第33-34页 |
| ·实验过程 | 第34-35页 |
| ·结果与讨论 | 第35-41页 |
| ·硅铝比对钙离子吸附的影响 | 第35-36页 |
| ·钠铝比对钙离子吸附的影响 | 第36-37页 |
| ·水钠比对钙离子吸附的影响 | 第37-38页 |
| ·碱化温度对钙离子吸附的影响 | 第38页 |
| ·碱化时间对钙离子吸附的影响 | 第38-39页 |
| ·结晶温度对钙离子吸附的影响 | 第39-40页 |
| ·结晶时间对钙离子吸附的影响 | 第40-41页 |
| ·水热合成的最佳工艺条件 | 第41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 第五章 4A 分子筛的性能与结构研究 | 第42-49页 |
| ·引言 | 第42-43页 |
| ·研究样品制备 | 第43页 |
| ·实验条件 | 第43页 |
| ·实验过程 | 第43页 |
| ·性能测试 | 第43-44页 |
| ·质量指标 | 第43-44页 |
| ·结构研究 | 第44-48页 |
| ·差示扫描量热分析 | 第44页 |
| ·XRD 分析 | 第44-46页 |
| ·FT-IR 分析 | 第46-47页 |
| ·SEM 分析 | 第47页 |
| ·比表面积分析 | 第47-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 第六章 4A 分子筛的应用研究 | 第49-57页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·实验部分 | 第49-50页 |
| ·实验方案 | 第49-50页 |
| ·实验过程 | 第50页 |
| ·结果与讨论 | 第50-54页 |
| ·pH 值对吸附量的影响 | 第50-51页 |
| ·时间对吸附量的影响 | 第51-52页 |
| ·温度对吸附量的影响 | 第52页 |
| ·吸附剂用量对吸附量的影响 | 第52-53页 |
| ·Ca2+初始浓度对吸附量的影响 | 第53-54页 |
| ·优化实验条件 | 第54页 |
| ·吸附等温线 | 第54-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 第七章 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
