| 论文提要 | 第1-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-14页 |
| ·物质高压研究背景 | 第7-8页 |
| ·X 射线衍射技术 | 第8-9页 |
| ·同步辐射的发展及应用 | 第9-10页 |
| ·CaB?_6 研究背景 | 第10-13页 |
| ·导体、半金属、半导体、绝缘体的区分 | 第10-11页 |
| ·常压下CaB_6 的研究背景 | 第11-13页 |
| ·论文的选题目的和意义 | 第13页 |
| ·本论文各部分的主要内容 | 第13-14页 |
| 第二章 高压测量实验手段的实现 | 第14-21页 |
| ·测量微电路在金刚石对顶砧上的集成 | 第14-19页 |
| ·集成过程 | 第14-17页 |
| ·高压电学测量方法 | 第17-19页 |
| ·同步辐射X 光散射测试方法：微束衍射探测的两种模式EDXRD 与ADXRD 的区别 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 CaB_6的高压电学性质研究 | 第21-29页 |
| ·CaB_6 高压电导率测量 | 第21-24页 |
| ·样品的组装 | 第22-23页 |
| ·实验结果研究 | 第23-24页 |
| ·常压和高压下CaB_6 电导率随温度的变化关系 | 第24-26页 |
| ·测量CaB_6 的四个接触电极测试结果 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章CaB_6的高压X 光研究 | 第29-42页 |
| ·高压下的同步辐射角散X 光衍射 | 第29-30页 |
| ·传压介质的选择 | 第29-30页 |
| ·同步辐射角散X 光散射测试手段 | 第30页 |
| ·CaB_6 高压X 光测量 | 第30-32页 |
| ·结合Materials Studio 确定CaB_6 结构相变后的具体结构 | 第32-37页 |
| ·实验数据的处理 | 第32-35页 |
| ·实验结果分析 | 第35-37页 |
| ·CaB_6 状态方程及体弹模量研究 | 第37-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 总结与展望 | 第42-44页 |
| 参考文献 | 第44-48页 |
| 中文摘要 | 第48-50页 |
| Abstract | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52页 |