| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 前言 | 第11-17页 |
| ·结构缺陷检测发展现状 | 第11-13页 |
| ·选题的背景 | 第13-15页 |
| ·本课题研究思路和研究意义 | 第15-17页 |
| 第2章 结构内部缺陷在均布压力作用下的理论研究 | 第17-22页 |
| ·结构内部缺陷理论模型的简化与建立 | 第17-20页 |
| ·弹性薄板理论的基本假设 | 第17-18页 |
| ·基本关系式和基本方程 | 第18-20页 |
| ·各模型在不同载荷作用下的变形分析 | 第20-22页 |
| 第3章 结构内部缺陷在均布压力作用下的有限元研究 | 第22-33页 |
| ·有限单元法简介 | 第22-25页 |
| ·有限元法的基本原理 | 第22-23页 |
| ·有限元软件 | 第23页 |
| ·有限元软件的分析过程 | 第23-24页 |
| ·有限元模型重建理论 | 第24-25页 |
| ·缺陷在均布压力作用下变形的有限元分析 | 第25-33页 |
| ·D=40mm,h=5mm模型在均布载荷作用下的离面变形分析 | 第26-27页 |
| ·D=8mm,不同位置深度缺陷覆盖层在载荷作用下的变形分析 | 第27-33页 |
| 第4章 用电子散斑千涉法对结构内部缺陷检测的实验研究 | 第33-86页 |
| ·电子散斑干涉法简介 | 第33-37页 |
| ·电子散斑干涉法的历史、现状 | 第33-34页 |
| ·相位测量技术 | 第34-35页 |
| ·电子散斑干涉法原理及实验光路 | 第35-37页 |
| ·电子散斑干涉法对缺陷试件在气压载荷作用下的变形研究 | 第37-86页 |
| ·实验中采用的试件与加载方法 | 第37-38页 |
| ·实验中的一些技术问题 | 第38-39页 |
| ·加载方式的探索历史 | 第39-40页 |
| ·加载方式的设计 | 第40-41页 |
| ·ESPI光路布置 | 第41-42页 |
| ·光路的调试 | 第42页 |
| ·实验步骤 | 第42-43页 |
| ·实验结果及数据分析 | 第43-86页 |
| ·D=40mm,H=5mm试件在不同载荷作用下的实验结果及分析 | 第43-51页 |
| ·D=8mm不同位置深度缺陷试件在不同载荷作用下的实验结果及分析 | 第51-86页 |
| 第5章 误差分析及实验改进建议 | 第86-88页 |
| ·误差分析 | 第86-87页 |
| ·改进建议 | 第87-88页 |
| 第6章 结论及展望 | 第88-91页 |
| ·结论 | 第88页 |
| ·本文的创新和贡献 | 第88-89页 |
| ·展望 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-98页 |
| 致谢 | 第98-99页 |
| 个人简历 在读期间发表的学术论文与研究成果 | 第99页 |
