摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第1章 引言 | 第8-16页 |
·选题背景 | 第8-9页 |
·过采样△∑A/D 在通讯领域的发展概述 | 第9-10页 |
·DT △∑A/D,CT △∑A/D 和Pipeline A/D 比较 | 第10-13页 |
·论文设计目标 | 第13-15页 |
·论文结构 | 第15-16页 |
第2章 过采样△∑A/D 的基本原理 | 第16-24页 |
·模拟信号的量化 | 第16-18页 |
·过采样技术 | 第18-20页 |
·噪声整形技术 | 第20-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第3章 △∑调制器的结构与性能 | 第24-40页 |
·本章概述 | 第24页 |
·衡量△∑调制器的指标 | 第24-26页 |
·工艺尺寸缩小对模拟电路的影响 | 第26-27页 |
·传统全反馈型△∑调制器 | 第27-28页 |
·前馈型△∑调制器 | 第28-30页 |
·前馈结构的模型与原理 | 第28-30页 |
·本论文选择的△∑调制器结构 | 第30-39页 |
·拓扑结构的选择 | 第30-31页 |
·结构中参数的确定 | 第31-33页 |
·理想条件下结构的性能 | 第33-34页 |
·系数变化对调制器性能的影响 | 第34-36页 |
·结构中各点的传输函数 | 第36-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第4章 非理想因素对△∑调制器的影响 | 第40-66页 |
·运放非理想因素的影响及运放参数确定 | 第40-49页 |
·运放有限增益的影响 | 第40-43页 |
·运放增益非线性的影响 | 第43-44页 |
·运放有限带宽的影响 | 第44-47页 |
·运放压摆率的影响 | 第47-49页 |
·D/A 非线性的影响及解决方法 | 第49-52页 |
·D/A 非线性产生的原因 | 第49-50页 |
·解决D/A 中电容失配影响的方法 | 第50-52页 |
·各种电路噪声的影响 | 第52-58页 |
·开关热噪声的影响 | 第52-54页 |
·运放噪声的影响 | 第54页 |
·运放1/f 噪声的影响 | 第54-57页 |
·参考电压源噪声的影响 | 第57-58页 |
·噪声小结 | 第58页 |
·其他非理想因素的影响 | 第58-65页 |
·时钟抖动的影响 | 第58-59页 |
·开关导通电阻及非线性的影响 | 第59-62页 |
·比较器失调的影响 | 第62-63页 |
·非理想加法器的影响 | 第63-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第5章 △∑调制器的电路设计 | 第66-89页 |
·整体电路结构 | 第66-67页 |
·比较器设计 | 第67-70页 |
·运放设计 | 第70-75页 |
·运放设计指标的确定 | 第70-71页 |
·运放的结构选择 | 第71-72页 |
·运放仿真结果 | 第72-75页 |
·运放仿真小结 | 第75页 |
·开关设计 | 第75-77页 |
·动态元件匹配(DEM)单元设计 | 第77-80页 |
·DWA 算法的实现 | 第77-79页 |
·DWA 算法在实际电路中的作用 | 第79-80页 |
·时钟产生电路设计 | 第80-84页 |
·芯片版图设计 | 第84-85页 |
·整体仿真结果 | 第85-88页 |
·芯片前仿结果 | 第85-86页 |
·芯片后仿结果 | 第86-88页 |
·本章小结 | 第88-89页 |
第6章 △∑调制器的测试及电路改进 | 第89-107页 |
·测试原理及设备 | 第89-91页 |
·通用电源板的设计 | 第91-96页 |
·可调的0.2V 以上电压源 | 第92-93页 |
·1.22V 以上电压源 | 第93-94页 |
·参考电压源 | 第94-95页 |
·偏置电流 | 第95页 |
·接口设计 | 第95-96页 |
·测试芯片的PCB 板设计 | 第96-97页 |
·芯片测试结果 | 第97-101页 |
·测试结果 | 第97-99页 |
·测试结果分析 | 第99-101页 |
·电路的改进 | 第101-105页 |
·比较器电路的改进 | 第101-104页 |
·版图设计 | 第104页 |
·全电路后仿结果 | 第104-105页 |
·本章小结 | 第105-107页 |
第7章 总结与展望 | 第107-108页 |
参考文献 | 第108-112页 |
致谢 | 第112-113页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第113页 |