相变存储器电学性能测试与存储性能演示系统研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-30页 |
| ·相变存储器概述 | 第11-21页 |
| ·相变存储器发展历史 | 第11-13页 |
| ·相变材料特性 | 第13-14页 |
| ·相变存储器操作原理 | 第14-16页 |
| ·相变存储器元件特性 | 第16-18页 |
| ·相变存储器阵列结构 | 第18-19页 |
| ·相变存储器发展现状 | 第19-21页 |
| ·自动化测试系统的概述 | 第21-26页 |
| ·自动测试系统发展的三个阶段 | 第22-23页 |
| ·GPIB通用数字接口总线技术 | 第23-25页 |
| ·自动化测试系统的软件开发 | 第25-26页 |
| ·相变存储器测试技术的发展现状 | 第26-27页 |
| ·本论文的研究背景及拟研究内容 | 第27-30页 |
| 第二章 测试系统的整体方案设计 | 第30-34页 |
| ·引言 | 第30页 |
| ·待测参数的确定 | 第30页 |
| ·测试系统的组成 | 第30-33页 |
| ·测试系统的硬件组成 | 第31-32页 |
| ·相变存储器的软件设计 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 测试系统的软硬件设计 | 第34-44页 |
| ·信号发生器设备模块 | 第34-35页 |
| ·阻抗测试设备模块 | 第35-36页 |
| ·PCI7250数字I/O卡和切换盒 | 第36-37页 |
| ·PCI7250的硬件原理 | 第36页 |
| ·切换盒的硬件原理 | 第36-37页 |
| ·七个测试模块的原理和软件编程 | 第37-43页 |
| ·V-I和I-V关系测试模块 | 第38页 |
| ·电阻与写脉高、写脉宽关系测试模块 | 第38-39页 |
| ·电阻与擦脉高、擦脉宽关系测试模块 | 第39-40页 |
| ·疲劳特性测试模块 | 第40-43页 |
| ·测试系统操作界面 | 第43页 |
| ·本章小节 | 第43-44页 |
| 第四章 系统误差分析与验证性实验 | 第44-58页 |
| ·系统精度和误差分析 | 第44-49页 |
| ·系统误差分析方法 | 第44-45页 |
| ·本测试系统中误差来源 | 第45页 |
| ·脉冲信号误差分析 | 第45-48页 |
| ·电阻测量误差分析 | 第48-49页 |
| ·基于相变存储器测试流程 | 第49-51页 |
| ·基于相变存储器测试流程各个模块验证性试验 | 第51-57页 |
| ·I-V模块验证 | 第51-52页 |
| ·充分RESET脉冲参数的测试 | 第52-53页 |
| ·阻抗与SET脉冲参数模块验证 | 第53-55页 |
| ·阻抗与RESET脉冲参数模块验证 | 第55-56页 |
| ·疲劳测试模块验证 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 1T1R测试系统 | 第58-70页 |
| ·测试原理 | 第58-61页 |
| ·测试硬件设备 | 第58-59页 |
| ·测试参数确定 | 第59-61页 |
| ·测试系统设计 | 第61-64页 |
| ·测试方法 | 第61页 |
| ·测试系统软件设计 | 第61-64页 |
| ·测试模块的验证 | 第64-68页 |
| ·电阻测量误差分析 | 第64-65页 |
| ·模块验证 | 第65-68页 |
| ·总结 | 第68-70页 |
| 第六章 相变存储器阵列单元演示系统设计 | 第70-85页 |
| ·演示系统的功能 | 第70-71页 |
| ·演示系统的硬件设计 | 第71-75页 |
| ·硬件的整体设计 | 第71页 |
| ·单片机控制模块 | 第71-72页 |
| ·PLD可编程器件控制模块 | 第72-73页 |
| ·读写控制电路 | 第73-75页 |
| ·演示系统的软件设计 | 第75-82页 |
| ·软件的整体设计 | 第75-77页 |
| ·控制计算机软件设计实现 | 第77-79页 |
| ·单片机软件编程模块 | 第79-82页 |
| ·演示系统验证 | 第82-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 第七章 结论 | 第85-88页 |
| ·总结 | 第85-86页 |
| ·展望 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-96页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文目录 | 第96-97页 |
| 致谢 | 第97-98页 |
| 个人简历 | 第98-99页 |
