频率域光学相干层析术成像特性分析及实验研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
1 绪论 | 第7-10页 |
·光学相干层析术的发展历史及应用 | 第7-8页 |
·光学相干层析术的特点 | 第8页 |
·OCT的国内国际研究现状 | 第8页 |
·本课题研究的主要内容及意义 | 第8-10页 |
2 频域OCT的基本原理及系统构成 | 第10-30页 |
·OCT的理论基础 | 第10-14页 |
·迈克尔逊干涉仪 | 第10-12页 |
·低相干干涉 | 第12-14页 |
·频域OCT的基本原理 | 第14-16页 |
·光谱仪 | 第16-21页 |
·衍射光栅 | 第16-19页 |
·CCD探测器阵列 | 第19-20页 |
·光谱仪的分辨率 | 第20-21页 |
·频域OCT的相关参数 | 第21-25页 |
·FD-OCT的横向分辨率 | 第21-22页 |
·FD-OCT的纵向分辨率 | 第22-23页 |
·FD-OCT的成像深度 | 第23页 |
·FD-OCT的动态范围 | 第23-24页 |
·FD-OCT的灵敏度 | 第24-25页 |
·频域OCT的噪声及信噪比分析 | 第25-30页 |
·来自于光源的噪声 | 第25页 |
·来自于干涉仪的噪声 | 第25-26页 |
·CCD和光电二极管的噪声对比 | 第26-27页 |
·频域OCT和时域OCT的信噪比分析 | 第27-30页 |
3 频域OCT的信号处理与图像重建 | 第30-44页 |
·频域OCT的信号分析 | 第30-31页 |
·频域OCT的图像重建 | 第31-41页 |
·频域OCT直流信号的去除 | 第31-33页 |
·希尔伯特变换 | 第33-34页 |
·相移频谱OCT | 第34-35页 |
·相移差分频谱OCT | 第35-36页 |
·复频谱OCT | 第36-39页 |
·光谱仪的波长标定 | 第39-41页 |
·色散补偿 | 第41-44页 |
4 频域OCT成像实验 | 第44-57页 |
·光源 | 第44-45页 |
·调试光源 | 第44页 |
·宽带光源 | 第44-45页 |
·干涉仪 | 第45页 |
·分光光谱仪 | 第45-51页 |
·光栅 | 第46-47页 |
·CCD探测器 | 第47-49页 |
·步进电机 | 第49-51页 |
·频域OCT成像结果及分析 | 第51-57页 |
·盖玻片成像实验 | 第51-54页 |
·盖玻片深度位置标定 | 第54-57页 |
结论 | 第57-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-63页 |
附录 | 第63页 |