摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-15页 |
主要缩略语表 | 第15-17页 |
第1章 绪论 | 第17-35页 |
·课题背景 | 第17-20页 |
·穿墙成像 | 第17-18页 |
·IR-UWB 无线电技术 | 第18-20页 |
·课题研究目的及意义 | 第20-21页 |
·国内外研究现状及分析 | 第21-32页 |
·修正定位误差的穿墙成像算法研究现状 | 第22-26页 |
·IR-UWB 穿墙成像分辨率的研究现状 | 第26-28页 |
·针对虚假像抑制的IR-UWB 天线阵及波束形成研究现状 | 第28-31页 |
·存在的问题与不足 | 第31-32页 |
·本课题的主要研究内容 | 第32-35页 |
第2章 IR-UWB 穿墙成像系统及性能评价指标 | 第35-62页 |
·引言 | 第35页 |
·IR-UWB 穿墙成像基本原理 | 第35-37页 |
·穿墙成像的探测环境及目标模型 | 第37-40页 |
·电磁波的穿墙性能 | 第37-38页 |
·目标散射点模型 | 第38-40页 |
·IR-UWB 穿墙成像系统的探测方式 | 第40-46页 |
·IR-UWB 信号模型 | 第40-41页 |
·回波信号模型 | 第41-43页 |
·天线阵列 | 第43-44页 |
·IR-UWB 天线阵远近场分界 | 第44-46页 |
·穿墙成像算法 | 第46-57页 |
·直达波抑制 | 第46-48页 |
·经典的BP 成像算法 | 第48-53页 |
·BP-TWI 算法 | 第53-57页 |
·IR-UWB 穿墙成像系统的主要性能指标 | 第57-61页 |
·主要性能指标 | 第57-58页 |
·影响主要性能指标的系统要素的分析 | 第58-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第3章 墙体参数未知的IR-UWB 穿墙成像中定位误差的修正 | 第62-91页 |
·引言 | 第62-63页 |
·墙体参数误差对IR-UWB 穿墙成像中定位误差的影响 | 第63-67页 |
·自动对焦BP-TWI 算法 | 第67-69页 |
·自动对焦BP-TWI 算法基本原理 | 第67-68页 |
·对焦衡量指标 | 第68-69页 |
·等时延-速度补偿自动对焦BP-TWI 算法 | 第69-90页 |
·等时延补偿自动对焦BP-TWI 算法 | 第69-78页 |
·速度补偿自动对焦BP-TWI 算法 | 第78-85页 |
·两种自动对焦BP-TWI 算法的结合 | 第85-90页 |
·本章小结 | 第90-91页 |
第4章 IR-UWB 穿墙成像分辨率的研究 | 第91-115页 |
·引言 | 第91-92页 |
·IR-UWB 近场成像分辨率计算方法 | 第92-104页 |
·单天线探测时分辨率的计算 | 第93-98页 |
·实孔径天线阵探测时分辨率的计算 | 第98-101页 |
·结果验证 | 第101-104页 |
·IR-UWB 穿墙成像分辨率计算方法 | 第104-106页 |
·IR-UWB 穿墙成像分辨率的计算 | 第104-105页 |
·结果验证 | 第105-106页 |
·IR-UWB 穿墙成像分辨率的空间分布 | 第106-110页 |
·IR-UWB 穿墙成像分辨率与系统参数的关系 | 第110-114页 |
·本章小结 | 第114-115页 |
第5章 IR-UWB 穿墙成像中虚假像的抑制 | 第115-141页 |
·引言 | 第115-116页 |
·IR-UWB 穿墙成像中虚假像成因分析 | 第116-118页 |
·IR-UWB 近场时域波束形成 | 第118-125页 |
·IR-UWB 近场时域波束形成原理 | 第118-121页 |
·方向图及其与系统参数的关系 | 第121-125页 |
·不同拓扑结构天线阵波束形成的旁瓣性能 | 第125-133页 |
·均匀线阵的旁瓣性能 | 第125-129页 |
·随机阵列的旁瓣性能 | 第129-133页 |
·基于MIMO 阵列的天线阵列稀疏化处理 | 第133-139页 |
·有效阵列概念 | 第133-135页 |
·MIMO 阵列设计 | 第135-136页 |
·所设计的MIMO 阵列在近场及穿墙成像中的性能分析 | 第136-139页 |
·本章小结 | 第139-141页 |
结论 | 第141-143页 |
参考文献 | 第143-153页 |
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第153-155页 |
致谢 | 第155-156页 |
个人简历 | 第156页 |