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拓扑节线半金属ZrSiS的红外光谱研究

摘要第4-5页
abstract第5页
第一章 绪论第8页
引言第8-21页
    1.1 拓扑绝缘体第9-13页
        1.1.1 量子霍尔体系第10-12页
        1.1.2 Z_2拓扑绝缘体第12-13页
    1.2 拓扑半金属第13-19页
        1.2.1 狄拉克半金属第13-15页
        1.2.2 外尔半金属第15-17页
        1.2.3 节线半金属第17-19页
    1.3 其他量子拓扑材料第19-20页
        1.3.1 拓扑超导体第19-20页
        1.3.2 拓扑晶体绝缘体第20页
    1.4 本论文研究目的与内容第20-21页
第二章 红外反射光谱原理与技术第21-35页
    2.1 红外光谱简介第21-22页
    2.2 固体的光学性质第22-29页
        2.2.1 光学常数之间的关系第22-24页
        2.2.2 Kramers-Kronig变换第24-26页
        2.2.3 Drude模型和Lorentz模型的光学响应第26-29页
        2.2.4 求和规则第29页
    2.3 红外光谱实验技术第29-34页
        2.3.1 傅里叶光谱仪及其原理第29-31页
        2.3.2 原位镀膜测量技术第31-34页
    2.4 本章小结第34-35页
第三章 ZrSiS的晶体制备和输运研究第35-47页
    3.1 ZrSiS研究背景第35-42页
        3.1.1 ZrSiS的晶格结构第35-38页
        3.1.2 ZrSiS的电子结构第38-40页
        3.1.3 ZrSiS的拉曼光谱研究第40-42页
    3.2 ZrSiS单晶生长第42-44页
    3.3 ZrSiS的输运研究第44-46页
    3.4 本章小结第46-47页
第四章 ZrSiS的红外光学性质第47-55页
    4.1 ZrSiS的红外光谱测量过程第47-49页
    4.2 ZrSiS红外光谱数据处理与分析第49-54页
        4.2.1 ZrSiS的红外反射率谱第49-50页
        4.2.2 ZrSiS的光电导率实部第50-54页
    4.3 本章小结第54-55页
第五章 总结第55-56页
参考文献第56-61页
发表论文和科研情况说明第61-62页
致谢第62页

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