SIFT特征检测与描述ASIC设计

摘要	第4-5页
Abstract	第5页
缩略语	第8-9页
1 引言	第9-14页
1.1 研究的背景和意义	第9-10页
1.2 本课题国内外研究现状	第10-12页
1.3 本文研究内容	第12-14页
2 SIFT算法简介	第14-26页
2.1 SIFT算法概述	第14页
2.2 SIFT特征检测	第14-20页
2.3 SIFT描述向量生成	第20-25页
2.4 本章小结	第25-26页
3 SIFT特征特征检测硬件结构	第26-42页
3.1 SIFT特征检测整体结构设计	第26-27页
3.2 高斯差分空间构造硬件设计	第27-30页
3.3 极值点检测硬件设计	第30-32页
3.4 特征点精确定位电路设计	第32-37页
3.5 梯度方向和幅值计算	第37-41页
3.6 本章小结	第41-42页
4 SIFT特征特征向量描述硬件结构	第42-60页
4.1 向量生成整体结构设计	第42-46页
4.2 主方向直方图统计电路设计	第46-50页
4.3 主方向拟合电路设计	第50-51页
4.4 特征向量直方图统计电路设计	第51-56页
4.5 向量归一化电路设计	第56-57页
4.6 SIFT特征匹配硬件加速结构设计	第57-59页
4.7 本章小结	第59-60页
5 SIFT硬件系统功能验证与分析	第60-74页
5.1 硬件测试系统简介	第60页
5.2 硬件系统测试及分析	第60-66页
5.3 SIFT硬件结构处理速度分析	第66-67页
5.4 FPGA工程到ASIC的移植	第67-68页
5.5 DC综合结果	第68-72页
5.6 系统处理性能对比	第72-73页
5.7 本章小结	第73-74页
6 总结与展望	第74-75页
致谢	第75-76页
参考文献	第76-79页
附录 攻读学位期间发表论文目录	第79页