摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第10-11页 |
1.2 现有塑料薄膜厚度测量方法及比较 | 第11-13页 |
1.2.1 非在线薄膜厚度测量方法 | 第12页 |
1.2.2 在线薄膜厚度测量方法 | 第12-13页 |
1.3 塑料薄膜测厚技术的国内外发展历史和研究现状 | 第13-16页 |
1.3.1 国外研究历史与现状 | 第13-14页 |
1.3.2 国内研究历史和现状 | 第14-16页 |
1.4 课题主要的研究内容 | 第16-18页 |
第二章 红外测厚原理和实验平台设计 | 第18-30页 |
2.1 红外检测理论 | 第18-21页 |
2.1.1 红外光谱的原理和应用 | 第18-19页 |
2.1.2 塑料薄膜的吸收光谱 | 第19-20页 |
2.1.3 红外线测厚原理 | 第20-21页 |
2.1.3.1 朗伯-比尔定律 | 第20页 |
2.1.3.2 非色散红外光谱法(NDIR)技术的特点和优势 | 第20-21页 |
2.2 实验平台设计 | 第21-23页 |
2.3 系统硬件选型 | 第23-25页 |
2.3.1 传感器选型 | 第23页 |
2.3.2 红外光源选型 | 第23-25页 |
2.3.3 采集设备选型 | 第25页 |
2.4 硬件电路设计 | 第25-30页 |
2.4.1 方波发生电路设计 | 第25-26页 |
2.4.2 电源控制电路设计 | 第26-27页 |
2.4.3 低通滤波电路设计 | 第27-28页 |
2.4.4 硬件电路封装和中控机柜 | 第28-30页 |
第三章 影响因素分析和数据处理算法设计 | 第30-54页 |
3.1 光源调制时间对测量结果的影响 | 第30-32页 |
3.2 方波调制下不同薄膜厚度对测量结果的影响 | 第32-33页 |
3.3 光源传感器位置关系对测量结果的影响 | 第33-36页 |
3.3.1 上下对齐程度对测量结果的影响 | 第34-35页 |
3.3.2 光源和传感器距离对测量结果的影响 | 第35-36页 |
3.4 数据处理设计 | 第36-48页 |
3.4.1 数字低通滤波 | 第37-38页 |
3.4.1.1 滤波器参数设计 | 第37页 |
3.4.1.2 滤波器特性曲线 | 第37-38页 |
3.4.1.3 滤波结果 | 第38页 |
3.4.2 基于最小二乘法数据的动态校正 | 第38-42页 |
3.4.2.1 最小二乘法校正参数求解方法 | 第38-39页 |
3.4.2.2 校正模型的建立和校正过程与结果 | 第39-42页 |
3.4.3 一维卡尔曼滤波器设计 | 第42-44页 |
3.4.3.1 卡尔曼滤波过程 | 第42-43页 |
3.4.3.2 初始数据的选取 | 第43页 |
3.4.3.3 滤波结果分析 | 第43-44页 |
3.4.4 滑动平均滤波 | 第44页 |
3.4.5 数据处理结果分析 | 第44-46页 |
3.4.5.1 滤波曲线分析 | 第44-45页 |
3.4.5.2 滤波结果及误差分析 | 第45-46页 |
3.4.6 滤波等级设置及收敛时间讨论 | 第46-48页 |
3.5 多传感器数据融合 | 第48-54页 |
3.5.1 最优融合估计算法 | 第48-51页 |
3.5.1.1 算法原理 | 第48-50页 |
3.5.1.2 采用多传感器测量方差估算方法 | 第50-51页 |
3.5.2 数据融合实例和数据校正过程 | 第51-54页 |
第四章 测量系统软件设计 | 第54-74页 |
4.1 软件功能设计 | 第54-64页 |
4.1.1 设计原则 | 第54-55页 |
4.1.2 软件功能设计 | 第55-56页 |
4.1.3 软件工作流程和操作步骤 | 第56-57页 |
4.1.4 测量模块设计和操作流程 | 第57-58页 |
4.1.5 标定薄膜设计和操作流程 | 第58-60页 |
4.1.6 显示模块设计 | 第60-61页 |
4.1.7 历史数据模块设计和操作流程 | 第61-63页 |
4.1.8 基本参数设置功能设计 | 第63页 |
4.1.9 报警功能设计 | 第63-64页 |
4.2 数据采集软件设计 | 第64-67页 |
4.2.1 模拟电压值数据采集与分离存储设计 | 第65-66页 |
4.2.2 大容量连续数据采集和多线程调度设计 | 第66-67页 |
4.3 数据存储与数据库设计 | 第67-70页 |
4.3.1 厚度测量结果存储 | 第67-68页 |
4.3.2 初始参数存储与数据库设计 | 第68-70页 |
4.4 数字处理算法软件设计 | 第70-74页 |
第五章 薄膜厚度标定方法和测量结果分析 | 第74-80页 |
5.1 厚度曲线拟合方式和厚度标定 | 第74-75页 |
5.2 测厚仪的实际使用方法 | 第75页 |
5.3 环境因素对测量的影响及补偿措施 | 第75-79页 |
5.4 测量稳定性和实际测量精度分析 | 第79-80页 |
结论 | 第80-82页 |
参考文献 | 第82-86页 |
攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第86-88页 |
致谢 | 第88页 |