中文摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第10-34页 |
1.1 引言 | 第10-11页 |
1.2 碳纳米管概述 | 第11-18页 |
1.2.1 碳纳米管性能简介 | 第11-13页 |
1.2.2 碳纳米管合成工艺进展 | 第13-18页 |
1.3 垂直碳纳米管膜研究进展 | 第18-25页 |
1.3.1 碳纳米管内物质传输行为概述 | 第18-21页 |
1.3.2 电化学方法改性碳纳米管膜 | 第21-25页 |
1.4 聚合物/碳纳米管复合材料研究进展 | 第25-32页 |
1.4.1 聚合物/碳纳米管复合材料概述 | 第25-28页 |
1.4.2 聚氧化乙烯/碳纳米管复合材料研究进展 | 第28-29页 |
1.4.3 聚苯乙烯/碳纳米管复合材料研究进展 | 第29-30页 |
1.4.4 聚甲基丙烯酸甲酯/碳纳米管复合材料的研究 | 第30-32页 |
1.5 课题的提出和研究内容 | 第32-34页 |
1.5.1 课题的提出 | 第32-33页 |
1.5.2 研究内容 | 第33-34页 |
第二章 离子在碳纳米管通道内的传输行为 | 第34-57页 |
2.1 引言 | 第34-35页 |
2.2 实验部分 | 第35-41页 |
2.2.1 试验药品与仪器 | 第35-37页 |
2.2.2 碳纳米管/环氧树脂复合膜的制备 | 第37-38页 |
2.2.3 电活化处理碳纳米管/环氧树脂复合膜 | 第38-40页 |
2.2.4 电活化处理后碳纳米管内部水通道的可逆性测试 | 第40页 |
2.2.5 电活化处理后碳纳米管内的离子扩散 | 第40-41页 |
2.3 测试与表征 | 第41-43页 |
2.3.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第41页 |
2.3.2 紫外可见近红外分光光度计(UV-Vis) | 第41页 |
2.3.3 水接触角测试 | 第41页 |
2.3.4 红外光谱(FT-IR) | 第41页 |
2.3.5 透射电子显微镜(TEM) | 第41页 |
2.3.6 氯化钾的扩散实验 | 第41-42页 |
2.3.7 其他粒子的扩散实验 | 第42页 |
2.3.8 电学性能测试 | 第42-43页 |
2.4 结果与讨论 | 第43-56页 |
2.4.1 扫描电子显微镜结果分析 | 第43-44页 |
2.4.2 Au纳米颗粒的紫外吸收测试结果分析 | 第44-45页 |
2.4.3 水接触角测试结果分析 | 第45-46页 |
2.4.4 红外光谱测试结果分析 | 第46-47页 |
2.4.5 透射电子显微镜结果分析 | 第47-49页 |
2.4.6 氯化钾的扩散实验结果分析 | 第49-52页 |
2.4.7 其他离子的扩散实验结果分析 | 第52-54页 |
2.4.8 电学性能测试结果分析 | 第54-56页 |
2.5 本章小结 | 第56-57页 |
第三章 垂直排列的碳纳米管阵列中聚环氧乙烷的结晶行为 | 第57-74页 |
3.1 引言 | 第57-58页 |
3.2 实验部分 | 第58-60页 |
3.2.1 试验药品与仪器 | 第58-59页 |
3.2.2 碳纳米管阵列的制备 | 第59页 |
3.2.3 碳纳米管/聚环氧乙烷复合材料的制备 | 第59-60页 |
3.3 测试与表征 | 第60-63页 |
3.3.1 光学显微镜(OM) | 第60-61页 |
3.3.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第61页 |
3.3.3 小角X射线散射仪(SAXS) | 第61页 |
3.3.4 2D广角X射线衍射仪(WAXD) | 第61页 |
3.3.5 差示扫描量热仪(DSC) | 第61-62页 |
3.3.6 电化学测试 | 第62-63页 |
3.4 结果与讨论 | 第63-73页 |
3.4.1 光学显微镜结果分析 | 第63-64页 |
3.4.2 扫描电子显微镜结果分析 | 第64-65页 |
3.4.3 小角X射线散射结果分析 | 第65-67页 |
3.4.4 2D广角X射线衍射结果分析 | 第67-68页 |
3.4.5 差示扫描量热法结果分析 | 第68-71页 |
3.4.6 电化学测试结果分析 | 第71-73页 |
3.5 本章小结 | 第73-74页 |
第四章 PS与PMMA在CNT阵列管间通道中的玻璃化转变行为 | 第74-85页 |
4.1 引言 | 第74-75页 |
4.2 实验部分 | 第75-77页 |
4.2.1 试验药品与仪器 | 第75页 |
4.2.2 碳纳米管/聚苯乙烯复合材料的制备 | 第75-76页 |
4.2.3 碳纳米管/聚甲基丙烯酸甲酯复合材料的制备 | 第76-77页 |
4.3 测试与表征 | 第77-78页 |
4.3.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第77页 |
4.3.2 差示扫描量热仪(DSC) | 第77页 |
4.3.3 CNT阵列内PMMA的Tg稳定性测试 | 第77-78页 |
4.4 结果与讨论 | 第78-84页 |
4.4.1 扫描电子显微镜结果分析 | 第78-80页 |
4.4.2 差示扫描量热法结果分析 | 第80-83页 |
4.4.3 CNT阵列内PMMA的Tg稳定性测试结果分析 | 第83-84页 |
4.5 本章小结 | 第84-85页 |
第五章 总结与展望 | 第85-87页 |
参考文献 | 第87-109页 |
攻读学位期间公开发表的论文 | 第109-110页 |
致谢 | 第110-111页 |