| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第15-20页 |
| 1.1 射频识别技术的系统概述 | 第15-17页 |
| 1.1.1 RFID技术的发展历史及其研究现状 | 第15-17页 |
| 1.2 研究背景与意义 | 第17-18页 |
| 1.3 本文主要研究内容与结构安排 | 第18-20页 |
| 第二章 超高频RFID系统的关键技术研究 | 第20-31页 |
| 2.1 RFID技术的组成结构及其工作原理 | 第20-24页 |
| 2.1.1 电子标签 | 第20-21页 |
| 2.1.2 阅读器 | 第21-22页 |
| 2.1.3 天线 | 第22页 |
| 2.1.4 中间件 | 第22-23页 |
| 2.1.5 应用软件 | 第23页 |
| 2.1.6 RFID系统的工作原理 | 第23-24页 |
| 2.2 超高频RFID系统的性能指标及技术标准 | 第24-27页 |
| 2.2.1 RFID系统的性能指标 | 第24-25页 |
| 2.2.2 UHF-RFID系统技术标准 | 第25-27页 |
| 2.3 RFID射频识别系统主要的工作频段 | 第27页 |
| 2.4 超高频RFID标签 | 第27-30页 |
| 2.4.1 超高频RFID标签的分类 | 第28页 |
| 2.4.2 超高频RFID标签芯片 | 第28-29页 |
| 2.4.3 标签唤醒电路 | 第29-30页 |
| 2.5 小结 | 第30-31页 |
| 第三章 标签天线理论及天线仿真设计 | 第31-47页 |
| 3.1 标签天线的基本理论及其性能参数 | 第31-42页 |
| 3.1.1 天线方向性系数 | 第31-33页 |
| 3.1.2 天线的方向图 | 第33-34页 |
| 3.1.3 天线的辐射功率与辐射电阻 | 第34-35页 |
| 3.1.4 天线的辐射效率 | 第35-36页 |
| 3.1.5 天线增益 | 第36页 |
| 3.1.6 天线输入阻抗 | 第36-38页 |
| 3.1.7 天线的带宽 | 第38页 |
| 3.1.8 天线的极化 | 第38-39页 |
| 3.1.9 天线有效面积与传输方程 | 第39-42页 |
| 3.2 HFSS标签天线仿真 | 第42-46页 |
| 3.2.1 HFSS电磁仿真软件 | 第42页 |
| 3.2.2 HFSS天线仿真流程 | 第42-46页 |
| 3.3 小结 | 第46-47页 |
| 第四章 RFID标签天线的测量 | 第47-58页 |
| 4.1 标签芯片阻抗测量 | 第47-49页 |
| 4.2 标签天线阻抗测量 | 第49-53页 |
| 4.2.1 镜像测量法 | 第49-50页 |
| 4.2.2 巴伦测试法 | 第50-51页 |
| 4.2.3 测量线法 | 第51-52页 |
| 4.2.4 扫频长线法 | 第52-53页 |
| 4.3 标签最大读取距离的测量 | 第53-55页 |
| 4.4 天线增益测量 | 第55-56页 |
| 4.5 方向图测量 | 第56页 |
| 4.6 雷达截面测量 | 第56-57页 |
| 4.7 小结 | 第57-58页 |
| 第五章 无源UHF RFID偶极子标签天线辐射效率的测量 | 第58-70页 |
| 5.1 辐射效率的测量方法 | 第58-59页 |
| 5.2 方向性系数的估计 | 第59-64页 |
| 5.3 实际增益及功率方向图测量 | 第64-66页 |
| 5.4 功率传输系数的测量 | 第66-69页 |
| 5.5 小结 | 第69-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 6.1 总结 | 第70页 |
| 6.2 展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第75页 |