用于声子晶体检测的光外差测量技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题背景 | 第10-13页 |
| ·声子晶体概念 | 第10-11页 |
| ·声子晶体基本特征 | 第11-12页 |
| ·声子晶体缺陷态研究进展 | 第12-13页 |
| ·平板声子晶体研究概况 | 第13页 |
| ·声子晶体常用检测技术 | 第13-15页 |
| ·光外差测量原理 | 第15-16页 |
| ·课题来源 | 第16-17页 |
| ·本论文主要研究目的和内容 | 第17-18页 |
| 第二章 探测系统总体方案设计. | 第18-23页 |
| ·光外差测量系统主要影响因素[22-24] | 第18-20页 |
| ·外差测量信号及其常见问题 | 第18-19页 |
| ·外差测量信号主要影响因素 | 第19-20页 |
| ·系统的主要性能指标 | 第20-21页 |
| ·探测系统总体方案设计 | 第21-23页 |
| 第三章 硬件电路设计 | 第23-47页 |
| ·自动增益控制电路设计 | 第23-31页 |
| ·传统自动增益控制电路 | 第23-24页 |
| ·增益相位检测器AD8302 | 第24-27页 |
| ·压控放大器CLC522AJP | 第27-28页 |
| ·斜率提升电路设计 | 第28-31页 |
| ·锁相环（PLL）电路设计 | 第31-47页 |
| ·锁相环(PLL)技术 | 第31-32页 |
| ·锁相环(PLL)技术原理及其特点 | 第32-39页 |
| ·噪声对锁相环影响 | 第39-40页 |
| ·锁相环(PLL)设计 | 第40-47页 |
| 第四章 电路板设计 | 第47-50页 |
| ·高频电路板设计 | 第47-48页 |
| ·PCB 板的设计 | 第47页 |
| ·滤波电容选取与放置 | 第47-48页 |
| ·电路板调试 | 第48-50页 |
| ·裸板测试 | 第48页 |
| ·组件焊接 | 第48页 |
| ·整版测试 | 第48-49页 |
| ·上电功能测试 | 第49-50页 |
| 第五章 电路测试及实验结果分析 | 第50-58页 |
| ·光学测量电路测试 | 第50页 |
| ·锁相环电路测试 | 第50-51页 |
| ·自动增益控制电路性能测试 | 第51-52页 |
| ·平台及电路调试结果及性能分析 | 第52-53页 |
| ·声子晶体实验及实验结果分析 | 第53-58页 |
| ·阻抗特性测试装置 | 第53页 |
| ·网络分析仪测试结果 | 第53-54页 |
| ·外差测量测试结果 | 第54-56页 |
| ·测试结果分析 | 第56页 |
| ·连续测量结果分析 | 第56-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第63-64页 |
| 指导教师及作者简介 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
