摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第13-21页 |
1.1 研究背景和意义 | 第13-14页 |
1.2 国内外研究现状 | 第14-19页 |
1.2.1 电流互感器饱和检测研究现状 | 第14-17页 |
1.2.2 电流互感器饱和引起二次侧电流畸变的补偿研究现状 | 第17-19页 |
1.3 本文主要研究内容及所做的工作 | 第19-21页 |
第2章 电流互感器铁心饱和特性及仿真研究 | 第21-37页 |
2.1 电流互感器简介 | 第21页 |
2.2 电流互感器的饱和特性 | 第21-22页 |
2.3 电流互感器饱和仿真模型的选择 | 第22-25页 |
2.3.1 基于 JILES-ATHERTON 的电流互感器模型 | 第23-24页 |
2.3.2 基于 LUCAS 的电流互感器模型 | 第24-25页 |
2.4 各种因素对电流互感器饱和影响仿真 | 第25-34页 |
2.4.1 影响铁心饱和的因素的理论分析 | 第25-27页 |
2.4.2 影响铁心饱和因素的仿真分析 | 第27-34页 |
2.4.2.1 短路电流稳态分量对饱和的影响 | 第28-29页 |
2.4.2.2 衰减直流偏移分量对饱和的影响 | 第29-30页 |
2.4.2.3 二次侧负载对饱和的影响 | 第30页 |
2.4.2.4 铁心剩磁对饱和的影响 | 第30-31页 |
2.4.2.5 铁心截面积对饱和的影响 | 第31-32页 |
2.4.2.6 电流互感器变比对饱和的影响 | 第32-33页 |
2.4.2.7 绕组匝数对饱和的影响 | 第33-34页 |
2.5 本章小结 | 第34-37页 |
第3章 基于形态学梯度小波的铁心饱和检测方法 | 第37-55页 |
3.1 引言 | 第37页 |
3.2 检测方法的理论基础 | 第37-42页 |
3.2.1 数学形态学 | 第38-39页 |
3.2.1.1 二值数学形态学基本算子 | 第38-39页 |
3.2.1.2 灰度数学形态学基本算子 | 第39页 |
3.2.2 开-闭运算和高帽变换 | 第39-40页 |
3.2.3 形态学梯度小波 | 第40-42页 |
3.3 基于形态学梯度小波的检测方法 | 第42-53页 |
3.3.1 算法实现 | 第42-43页 |
3.3.2 仿真分析 | 第43-49页 |
3.3.3 比较分析 | 第49-53页 |
3.3.3.1 噪声的影响分析 | 第49-50页 |
3.3.3.2 谐波影响分析 | 第50页 |
3.3.3.3 采样率影响分析 | 第50-52页 |
3.3.3.4 与现有方法的比较分析 | 第52-53页 |
3.4 本章小结 | 第53-55页 |
第4章 基于提升形态学梯度和分解的饱和检测方法 | 第55-65页 |
4.1 引言 | 第55页 |
4.2 理论基础 | 第55-57页 |
4.2.1 形态学梯度(MG) | 第55-56页 |
4.2.2 提升形态学梯度 | 第56-57页 |
4.3 基于形态学梯度和分解的检测方法 | 第57-63页 |
4.3.1 算法实现 | 第57-59页 |
4.3.1.1 基于提升形态学梯度的饱和检测算法 | 第57-58页 |
4.3.1.2 基于形态学分解的饱和检测算法 | 第58页 |
4.3.1.3 饱和检测方法 | 第58-59页 |
4.3.2 仿真分析 | 第59-63页 |
4.4 本章小结 | 第63-65页 |
第5章 基于线性回归的畸变电流补偿方法 | 第65-77页 |
5.1 引言 | 第65页 |
5.2 基于线性回归的畸变补偿方法 | 第65-70页 |
5.2.1 最小二乘法 | 第66-67页 |
5.2.2 算法实现 | 第67-70页 |
5.2.2.1 计算衰减直流分量参数 | 第67-68页 |
5.2.2.2 计算基波分量参数 | 第68-70页 |
5.2.2.3 计算补偿电流 | 第70页 |
5.3 仿真分析 | 第70-75页 |
5.4 本章小结 | 第75-77页 |
第6章 铁心饱和检测在片上系统的实现 | 第77-97页 |
6.1 片上系统硬件平台开发 | 第77-85页 |
6.1.1 硬件系统规格 | 第77-78页 |
6.1.2 硬件系统设计 | 第78-82页 |
6.1.2.1 电源子系统 | 第78-79页 |
6.1.2.2 FPGA 和存储设备 | 第79-80页 |
6.1.2.3 数据采集子系统 | 第80-81页 |
6.1.2.4 开关量输入输出单元 | 第81页 |
6.1.2.5 通信接口 | 第81-82页 |
6.1.3 印刷电路板设计 | 第82-85页 |
6.2 片上系统软件平台开发 | 第85-93页 |
6.2.1 ADC 控制模块 | 第85-87页 |
6.2.2 设计 FPGA 系统 | 第87-91页 |
6.2.3 μC/OS-II 实时操作系统 | 第91-93页 |
6.3 CT 饱和检测方法在片上系统的实现 | 第93-96页 |
6.3.1 搭建测试平台 | 第93-94页 |
6.3.2 片上系统饱和检测仿真分析 | 第94-96页 |
6.4 本章小结 | 第96-97页 |
第7章 结论 | 第97-99页 |
参考文献 | 第99-105页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文和专利 | 第105-107页 |
致谢 | 第107-108页 |
附件 | 第108页 |