| 摘要 | 第10-12页 |
| Abstract | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第14-28页 |
| 1.1 压电陶瓷材料的发展历史 | 第14-16页 |
| 1.2 压电陶瓷研究现状 | 第16-20页 |
| 1.2.1 压电效应产生机理 | 第16-17页 |
| 1.2.2 元素掺杂改性研究 | 第17-18页 |
| 1.2.3 PMN-PZT研究现状 | 第18-20页 |
| 1.3 压电双晶片工作原理 | 第20页 |
| 1.4 压电陶瓷制备方法 | 第20-23页 |
| 1.4.1 干压法 | 第20-21页 |
| 1.4.2 静水压成型 | 第21页 |
| 1.4.3 轧膜成型 | 第21页 |
| 1.4.4 流延成型 | 第21-23页 |
| 1.5 压电陶瓷性能参数 | 第23-27页 |
| 1.5.1 介电常数 | 第23页 |
| 1.5.2 介质损耗 | 第23-24页 |
| 1.5.3 机械品质因数 | 第24页 |
| 1.5.4 机电耦合系数 | 第24-25页 |
| 1.5.5 频率常数 | 第25页 |
| 1.5.6 压电常数 | 第25-26页 |
| 1.5.7 弹性柔顺常数 | 第26-27页 |
| 1.6 研究内容与意义 | 第27-28页 |
| 第二章 实验方法及测试手段 | 第28-32页 |
| 2.1 制备工艺及实验设备 | 第28-30页 |
| 2.2 性能测试及检测仪器 | 第30-32页 |
| 2.2.1 体积密度 | 第30页 |
| 2.2.2 相对介电常数及介电损耗 | 第30页 |
| 2.2.3 压电应变常数 | 第30页 |
| 2.2.4 机电耦合系数和机械品质因子 | 第30-31页 |
| 2.2.5 居里温度 | 第31页 |
| 2.2.6 显微结构及相组成 | 第31-32页 |
| 第三章 PMN-PZT三元系压电陶瓷性能的研究 | 第32-53页 |
| 3.1 PMN含量对PMN-PZT陶瓷性能的影响 | 第32-41页 |
| 3.1.1 XRD图谱分析 | 第32-34页 |
| 3.1.2 SEM照片分析 | 第34-35页 |
| 3.1.3 介电性能及居里温度 | 第35-40页 |
| 3.1.4 压电性能 | 第40-41页 |
| 3.2 Zr/Ti比对PMN-PZT陶瓷性能的影响 | 第41-51页 |
| 3.2.1 XRD图谱分析 | 第42-44页 |
| 3.2.2 SEM照片分析 | 第44-47页 |
| 3.2.3 介电性能及居里温度 | 第47-50页 |
| 3.2.4 压电性能 | 第50-51页 |
| 3.3 本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 元素掺杂对PMN-PZT三元系压电陶瓷性能影响 | 第53-79页 |
| 4.1 SrCO_3置换的影响 | 第53-57页 |
| 4.1.1 XRD图谱分析 | 第53-54页 |
| 4.1.2 SEM照片分析 | 第54-55页 |
| 4.1.3 介电性能及居里温度 | 第55-56页 |
| 4.1.4 压电性能 | 第56-57页 |
| 4.2 SrCO_3和BaCO_3复合掺杂的影响 | 第57-61页 |
| 4.2.1 XRD图谱分析 | 第58页 |
| 4.2.2 SEM照片分析 | 第58-60页 |
| 4.2.3 介电性能及居里温度 | 第60页 |
| 4.2.4 压电性能 | 第60-61页 |
| 4.3 La_2O_3掺杂的影响 | 第61-67页 |
| 4.3.1 XRD图谱分析 | 第62-63页 |
| 4.3.2 SEM照片分析 | 第63-64页 |
| 4.3.3 介电性能及居里温度 | 第64-66页 |
| 4.3.4 压电性能 | 第66-67页 |
| 4.4 Nb_2O_5掺杂的影响 | 第67-72页 |
| 4.4.1 XRD图谱分析 | 第67-68页 |
| 4.4.2 SEM照片分析 | 第68-70页 |
| 4.4.3 介电性能及居里温度 | 第70-71页 |
| 4.4.4 压电性能 | 第71-72页 |
| 4.5 NiCO_3掺杂的影响 | 第72-77页 |
| 4.5.1 XRD图谱分析 | 第72-73页 |
| 4.5.2 SEM照片分析 | 第73-75页 |
| 4.5.3 介电性能及居里温度 | 第75-76页 |
| 4.5.4 压电性能 | 第76-77页 |
| 4.6 本章小结 | 第77-79页 |
| 第五章 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第85页 |