| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 原子核质量重要性 | 第12页 |
| 1.2 原子核质量测量方法 | 第12-13页 |
| 1.2.1 间接测量法 | 第13页 |
| 1.2.2 直接测量法 | 第13页 |
| 1.3 原子核质量测量相关研究 | 第13-16页 |
| 1.3.1 储存环和潘宁阱 | 第13-15页 |
| 1.3.2 奇特原子核 | 第15页 |
| 1.3.3 核合成研究 | 第15页 |
| 1.3.4 原子核模型及基本相互作用检验 | 第15-16页 |
| 1.4 质谱仪简介 | 第16-17页 |
| 1.4.1 质谱仪分类 | 第16-17页 |
| 1.4.2 质量分析器 | 第17页 |
| 1.4.3 质谱仪器的主要技术指标 | 第17页 |
| 1.5 本研究的主要工作 | 第17-20页 |
| 第2章 项目与实验装置简介 | 第20-32页 |
| 2.1 项目介绍 | 第20-22页 |
| 2.1.1 SPIRAL 2 项目 | 第20页 |
| 2.1.2 S3项目 | 第20-21页 |
| 2.1.3 S3-LEB项目 | 第21-22页 |
| 2.2 实验装置简介 | 第22-28页 |
| 2.2.1 实验台架 | 第22-23页 |
| 2.2.2 离子检测系统 | 第23-24页 |
| 2.2.3 真空系统 | 第24-25页 |
| 2.2.4 操作界面 | 第25-26页 |
| 2.2.5 数据采集系统与电源分配 | 第26-28页 |
| 2.3 LUA语言简介 | 第28页 |
| 2.4 SIMION软件 | 第28-30页 |
| 2.4.1 SIMION简介 | 第28页 |
| 2.4.2 SIMION操作界面 | 第28-29页 |
| 2.4.3 SIMION数据记录界面 | 第29页 |
| 2.4.4 SIMION几何定义语言简介 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-32页 |
| 第3章 射频四极杆冷却聚束器数值模拟 | 第32-50页 |
| 3.1 射频四极杆冷却聚束器原理与其在项目中的作用 | 第32-33页 |
| 3.1.1 射频电场 | 第32页 |
| 3.1.2 射频四极杆冷却聚束器工作原理 | 第32页 |
| 3.1.3 射频四极杆冷却聚束器在项目中的作用 | 第32-33页 |
| 3.2 射频四极杆冷却聚束器几何模型与冷却模拟过程概述 | 第33-38页 |
| 3.2.1 刚性球碰撞理论 | 第33-34页 |
| 3.2.2 几何模型 | 第34-35页 |
| 3.2.3 模拟过程简述 | 第35页 |
| 3.2.4 基础模拟参数设定 | 第35-37页 |
| 3.2.5 时间步长调节 | 第37-38页 |
| 3.2.6 离子与离子碰撞处理方法与模型假设 | 第38页 |
| 3.3 离子束主要参数与离子源入射分布 | 第38-40页 |
| 3.3.1 离子束主要参数 | 第38-39页 |
| 3.3.2 离子入射分布 | 第39-40页 |
| 3.4 模拟结果分析与讨论 | 第40-48页 |
| 3.4.1 离子冷却过程 | 第40-41页 |
| 3.4.2 离子冷却能力与缓冲气体压强及冷却时间关系 | 第41-42页 |
| 3.4.3 离子冷却能力与缓冲气体分子量的关系 | 第42-43页 |
| 3.4.4 束流发射强度与温度及射频相之间关系 | 第43-46页 |
| 3.4.5 冷却所需要最少碰撞数 | 第46-47页 |
| 3.4.6 S3-LEB项目入射离子冷却时间估算 | 第47-48页 |
| 3.5 本章小结 | 第48-50页 |
| 第4章 多反射飞行时间质谱仪电压配置的数值模拟 | 第50-66页 |
| 4.1 PILGRIM工作原理 | 第50-51页 |
| 4.2 几何模型与模拟过程概述 | 第51-58页 |
| 4.2.1 PILGRIM离子入射源部分 | 第52-56页 |
| 4.2.2 PILGRIM质量分析器主体部分 | 第56页 |
| 4.2.3 模拟假设 | 第56-57页 |
| 4.2.4 模拟过程概述 | 第57页 |
| 4.2.5 电压脉冲模拟信号 | 第57-58页 |
| 4.3 模拟结果 | 第58-65页 |
| 4.3.1 透镜组参数调试 | 第58页 |
| 4.3.2 脉冲离子束参数调试 | 第58-62页 |
| 4.3.3 PILGRIM离子光学透镜组电势优化方法 | 第62-63页 |
| 4.3.4 PILGRIM离子光学透镜组电势优化结果 | 第63-65页 |
| 4.3.5 相同电势设定不同原子质量时质量分辨率变化 | 第65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第5章 多反射飞行时间质谱仪电压配置的实验研究 | 第66-78页 |
| 5.1 实验过程简述 | 第66-69页 |
| 5.1.1 实验前期准备过程 | 第66-67页 |
| 5.1.2 实验初期各设备测试 | 第67页 |
| 5.1.3 模拟与实验设置的不同之处 | 第67-68页 |
| 5.1.4 质量分析器透镜参数优化 | 第68-69页 |
| 5.2 实验结果分析与讨论 | 第69-75页 |
| 5.2.1 实验中透镜调节结果 | 第69-70页 |
| 5.2.2 离子代时间测量 | 第70页 |
| 5.2.3 质量分辨率计算方法 | 第70-72页 |
| 5.2.4 质量分析器电势-离子代时间漂移测量 | 第72页 |
| 5.2.5 质量分析器透镜电势-温度漂移测量 | 第72-73页 |
| 5.2.6 质量分辨率与离子在PILGRIM中的反射总数关系 | 第73页 |
| 5.2.7 PILGRIM透镜组实验最优参数 | 第73-74页 |
| 5.2.8 质量分辨率与离子在PILGRIM中的反射总数关系 | 第74页 |
| 5.2.9 离子束分离现象 | 第74-75页 |
| 5.3 项目展望 | 第75-77页 |
| 5.3.1 模拟方面 | 第75-76页 |
| 5.3.2 实验方面 | 第76-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 结论 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-87页 |
| 致谢 | 第87-89页 |
| 附录A | 第89-92页 |
