| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·研究背景 | 第8页 |
| ·研究目的和意义 | 第8-10页 |
| ·研究现状与主要问题 | 第8-9页 |
| ·开关电源辐射加固的意义 | 第9-10页 |
| ·论文结构 | 第10-12页 |
| 第二章DC/DC 转换器辐射加固基础 | 第12-22页 |
| ·DC/DC 转换器概述 | 第12-14页 |
| ·DC/DC 转换器组成及分类 | 第12-13页 |
| ·DC/DC 转换器基本工作原理 | 第13-14页 |
| ·DC/DC 转换器的空间辐照效应 | 第14-16页 |
| ·空间辐射环境 | 第14-15页 |
| ·DC/DC 转换器的电离辐射效应 | 第15-16页 |
| ·DC/DC 转换器辐射加固方法 | 第16-20页 |
| ·加固方法概述 | 第16-18页 |
| ·基于筛选的加固方法 | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第三章 DC/DC 转换器辐照下性能退化定量分析 | 第22-40页 |
| ·DC/DC 转换器及其内部分立易损器件辐照实验 | 第22-26页 |
| ·实验样品及测试偏置电路 | 第22-23页 |
| ·辐照实验结果 | 第23-26页 |
| ·DC/DC 转换器效率退化分析 | 第26-30页 |
| ·VDMOS 器件电学参数的退化及其与效率退化的关系 | 第26-28页 |
| ·数据验证 | 第28-30页 |
| ·DC/DC 转换器输出电压退化分析 | 第30-37页 |
| ·电磁反馈结构中输出电压与内部易损器件关系 | 第31页 |
| ·光耦反馈结构中输出电压与内部易损器件关系 | 第31-34页 |
| ·仿真验证 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-40页 |
| 第四章 基于筛选的DC/DC 转换器辐射加固方案 | 第40-66页 |
| ·VDMOS 抗辐射筛选方案与实验方案 | 第40-48页 |
| ·VDMOS 抗辐射筛选方案 | 第40-43页 |
| ·VDMOS 筛选辐照实验方案设计 | 第43-48页 |
| ·PWM 抗辐射筛选方案与实验方案 | 第48-55页 |
| ·PWM 抗辐射筛选方案 | 第48-51页 |
| ·PWM 筛选辐照实验方案设计 | 第51-55页 |
| ·器件筛选对DC/DC 转换器抗辐射性能提高的作用 | 第55-58页 |
| ·抗辐射筛选对减缓DC/DC 转换器效率退化的作用 | 第56-57页 |
| ·抗辐射筛选对减缓DC/DC 转换器输出电压退化的作用 | 第57-58页 |
| ·基于PHM 理念的DC/DC 转换器整体预兆单元 | 第58-64页 |
| ·预兆单元研发背景 | 第59页 |
| ·改进的DC/DC 转换器预兆单元 | 第59-63页 |
| ·DC/DC 转换器预兆单元与PHM 系统 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第五章 结论与展望 | 第66-68页 |
| ·论文结论 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 作者在读期间的研究成果 | 第72-73页 |
