LED表面亮度测试方法研究及亮度分析系统研制
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第13-28页 |
| 1.1 LED的发展历程 | 第13-17页 |
| 1.2 LED的产业现状及前景 | 第17-20页 |
| 1.3 LED的基础概论 | 第20-22页 |
| 1.3.1 发光原理 | 第20页 |
| 1.3.2 芯片结构 | 第20-21页 |
| 1.3.3 封装工艺 | 第21-22页 |
| 1.4 LED亮度测试技术概述 | 第22-26页 |
| 1.4.1 LED的亮度测试方法 | 第22-24页 |
| 1.4.2 数码相机亮度测试技术的历史与现状 | 第24-26页 |
| 1.5选题依据及组织架构 | 第26-28页 |
| 1.5.1 选题依据 | 第26页 |
| 1.5.2 组织架构 | 第26-28页 |
| 第二章 LED芯片表面亮度测试的模型构建 | 第28-35页 |
| 2.1 引言 | 第28-29页 |
| 2.2 RGB模型与灰度模型 | 第29-30页 |
| 2.3 成像式亮度计的测试模型 | 第30-31页 |
| 2.4 数码相机的亮度测试模型 | 第31-33页 |
| 2.5 LED芯片表面亮度测试系统的测试模型 | 第33-34页 |
| 2.6 小结 | 第34-35页 |
| 第三章 LED芯片表面亮度测试方法研究 | 第35-51页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 数码相机的标定原理与方法 | 第35-37页 |
| 3.2.1 暗电流校正 | 第35-36页 |
| 3.2.2 非均匀性校正 | 第36-37页 |
| 3.3 LED芯片表面亮度测试系统的标定实验 | 第37-46页 |
| 3.3.1 仪器与设备 | 第37-38页 |
| 3.3.2 数码相机的选取 | 第38-40页 |
| 3.3.3 暗电流校正实验 | 第40页 |
| 3.3.4 非均匀性校正实验 | 第40-42页 |
| 3.3.5 结果与讨论 | 第42-46页 |
| 3.4 LED芯片表面亮度测量 | 第46-50页 |
| 3.4.1 仪器与样品 | 第46-47页 |
| 3.4.2 测试流程 | 第47-48页 |
| 3.4.3 测试结果 | 第48-50页 |
| 3.5 小结 | 第50-51页 |
| 第四章 LED亮度均匀性分析系统设计 | 第51-63页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 Delphi概述 | 第51-53页 |
| 4.3 LED亮度均匀性分析系统软件的结构设计 | 第53-57页 |
| 4.3.1 软件的体系架构 | 第53-54页 |
| 4.3.2 功能界面设计 | 第54-56页 |
| 4.3.3 代码模块设计 | 第56-57页 |
| 4.4 LED亮度均匀性分析系统软件的原理 | 第57-58页 |
| 4.4.1 系统硬件部分 | 第57-58页 |
| 4.4.2 系统软件部分 | 第58页 |
| 4.5 LED亮度均匀性分析系统软件的操作流程 | 第58-62页 |
| 4.5.1 参数设置 | 第60-61页 |
| 4.5.2 测试结果 | 第61-62页 |
| 4.6 小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 硕士期间发表成果 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
