摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
·课题研究的背景和应用前景 | 第9-10页 |
·国外研究历史与现状 | 第10-11页 |
·国内研究现状 | 第11页 |
·本文的主要内容 | 第11-13页 |
2 激光诱导离解光谱技术的基本理论 | 第13-25页 |
·激光诱导离解光谱技术的基本原理 | 第13-14页 |
·什么是等离子体 | 第14页 |
·激光诱导离解光谱技术的等离子体形成机制 | 第14-15页 |
·激光诱导等离子体电磁辐射理论 | 第15-21页 |
·激光诱导等离子体的电磁辐射类型 | 第15-17页 |
·激光诱导等离子体发射光谱 | 第17-18页 |
·激光诱导等离子体电磁辐射的基本过程 | 第18-21页 |
·影响激光诱导离解光谱技术的工作参数研究 | 第21-24页 |
·缓冲气体和气体压强 | 第21页 |
·激光功率 | 第21页 |
·激光波长 | 第21-22页 |
·激光脉冲宽度 | 第22-23页 |
·双脉冲激发 | 第23页 |
·探测延迟 | 第23-24页 |
·实际工作中参数的选择 | 第24页 |
·小结 | 第24-25页 |
3 激光诱导离解光谱技术定量化传统方法 | 第25-36页 |
·激光诱导离解光谱技术的定性分析 | 第25-26页 |
·激光诱导离解光谱技术传统定量分析方法 | 第26-35页 |
·基体效应 | 第27-30页 |
·基于标准样本的定量化方法 | 第30-31页 |
·不基于标准样本的定量化方法 | 第31-35页 |
·小结 | 第35-36页 |
4 阶梯光栅光谱仪的校准研究 | 第36-43页 |
·阶梯光栅光谱仪的应用意义 | 第36页 |
·阶梯光栅光谱仪的工作原理 | 第36-37页 |
·阶梯光栅光谱仪的成像特征 | 第37-38页 |
·阶梯光栅光谱仪的校准原理 | 第38-39页 |
·阶梯光栅光谱仪的校准实验 | 第39-42页 |
·光谱数据的校准 | 第39页 |
·光谱仪实测标准灯光谱的获取和处理 | 第39-41页 |
·光栅响应校准系数的获取 | 第41-42页 |
·小结 | 第42-43页 |
5 用于激光诱导离解光谱技术定量化分析的基体校正方法的实验研究 | 第43-59页 |
·X射线荧光分析的检测方法 | 第43-44页 |
·经验系数法应用于激光诱导离解光谱技术的可行性验证实验 | 第44-52页 |
·实验系统的搭建 | 第44-47页 |
·光谱采集 | 第47页 |
·光谱数据的校准 | 第47-48页 |
·求出相对光强取平均值 | 第48页 |
·计算与验证 | 第48-52页 |
·基体校正方法用于激光诱导离解光谱技术定量化分析的实验研究 | 第52-58页 |
·基体校正法理论 | 第53-54页 |
·计算与验证 | 第54-58页 |
·小结 | 第58-59页 |
6 总结与展望 | 第59-61页 |
·总结 | 第59页 |
·展望 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
致谢 | 第64-65页 |
附录:攻读学位期间发表的论文目录 | 第65-66页 |