| 摘要 | 第5-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第16-40页 |
| 1.1 引言 | 第16-17页 |
| 1.2 高电压外绝缘材料 | 第17-19页 |
| 1.2.1 高电压外绝缘的范畴和主要问题 | 第17-18页 |
| 1.2.2 高电压外绝缘的常见材料 | 第18-19页 |
| 1.3 硅橡胶材料 | 第19-24页 |
| 1.3.1 硅橡胶的分类 | 第19-21页 |
| 1.3.2 硅橡胶的独特性能 | 第21-22页 |
| 1.3.3 硅橡胶在高电压外绝缘领域的应用 | 第22-24页 |
| 1.4 硅橡胶的耐漏电起痕性能 | 第24-32页 |
| 1.4.1 硅橡胶的漏电起痕及电蚀损破坏过程 | 第24-26页 |
| 1.4.2 硅橡胶的漏电起痕及电蚀损破坏机理 | 第26-27页 |
| 1.4.3 硅橡胶耐漏电起痕的研究进展 | 第27-32页 |
| 1.5 硅橡胶的阻燃性能 | 第32-37页 |
| 1.5.1 燃烧特性 | 第32-33页 |
| 1.5.2 阻燃技术 | 第33-34页 |
| 1.5.3 阻燃硅橡胶的研究进展 | 第34-37页 |
| 1.6 本课题的目的意义、主要研究内容和创新之处 | 第37-40页 |
| 1.6.1 本课题的目的意义 | 第37页 |
| 1.6.2 本课题的主要研究内容 | 第37-39页 |
| 1.6.3 本课题的特色与主要创新之处 | 第39-40页 |
| 第二章 含脲基硅烷的合成及其对ALSR耐漏电起痕作用的研究 | 第40-66页 |
| 2.1 引言 | 第40-41页 |
| 2.2 实验部分 | 第41-46页 |
| 2.2.1 主要原料 | 第41页 |
| 2.2.2 仪器与设备 | 第41-42页 |
| 2.2.3 含脲基硅烷的合成及ALSR样品的制备 | 第42-44页 |
| 2.2.4 测试与表征 | 第44-46页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第46-64页 |
| 2.3.1 含脲基硅烷的结构表征 | 第46-49页 |
| 2.3.2 含脲基硅烷对ALSR硫化性能的影响 | 第49-50页 |
| 2.3.3 含脲基硅烷对ALSR力学性能的影响 | 第50页 |
| 2.3.4 含脲基硅烷对ALSR耐漏电起痕性能的影响 | 第50-53页 |
| 2.3.5 含脲基硅烷对ALSR热稳定性能的影响 | 第53-56页 |
| 2.3.6 含脲基硅烷对ALSR耐漏电起痕作用机理的探讨 | 第56-64页 |
| 2.4 本章小结 | 第64-66页 |
| 第三章 烷基双取代脲基硅烷的合成及其对ALSR耐漏电起痕作用的研究 | 第66-88页 |
| 3.1 引言 | 第66页 |
| 3.2 实验部分 | 第66-69页 |
| 3.2.1 主要原料 | 第66-67页 |
| 3.2.2 仪器与设备 | 第67页 |
| 3.2.3 烷基双取代脲基硅烷的合成及ALSR样品的制备 | 第67-69页 |
| 3.2.4 测试与表征 | 第69页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第69-87页 |
| 3.3.1 烷基双取代脲基硅烷的结构表征 | 第69-73页 |
| 3.3.2 烷基双取代脲基硅烷对ALSR力学性能的影响 | 第73页 |
| 3.3.3 烷基取代脲基硅烷对ALSR热稳定性能的影响 | 第73-79页 |
| 3.3.4 烷基双取代脲基硅烷对ALSR耐漏电起痕性能的影响 | 第79-87页 |
| 3.4 本章小结 | 第87-88页 |
| 第四章 含脲基MQ硅树脂的合成及其对ALSR耐漏电起痕作用的研究 | 第88-104页 |
| 4.1 引言 | 第88-89页 |
| 4.2 实验部分 | 第89-91页 |
| 4.2.1 主要原料 | 第89页 |
| 4.2.2 仪器与设备 | 第89页 |
| 4.2.3 含脲基MQ硅树脂的合成及ALSR样品的制备 | 第89-90页 |
| 4.2.4 测试与表征 | 第90-91页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第91-103页 |
| 4.3.1 DIPUPES-MQ的结构表征 | 第91-93页 |
| 4.3.2 DIPUPES-MQ用量对ALSR力学性能的影响 | 第93-94页 |
| 4.3.3 DIPUPES-MQ用量对ALSR耐漏电起痕性能的影响 | 第94-97页 |
| 4.3.4 DIPUPES-MQ用量对ALSR热稳定性能的影响 | 第97-99页 |
| 4.3.5 DIPUPES-MQ对ALSR耐漏电起痕作用机理的探讨 | 第99-103页 |
| 4.4 本章小结 | 第103-104页 |
| 第五章 含受阻胺基团和氨酯基硅烷的合成及其对ALSR性能的影响 | 第104-121页 |
| 5.1 引言 | 第104-105页 |
| 5.2 实验部分 | 第105-107页 |
| 5.2.1 主要原料 | 第105页 |
| 5.2.2 仪器与设备 | 第105页 |
| 5.2.3 含受阻胺基团和氨酯基硅烷的合成及ALSR样品的制备 | 第105-106页 |
| 5.2.4 测试与表征 | 第106-107页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第107-120页 |
| 5.3.1 PMPURPAS的结构表征 | 第107-109页 |
| 5.3.2 PMPURPAS用量对ALSR力学性能的影响 | 第109-110页 |
| 5.3.3 PMPURPAS用量对ALSR耐漏电起痕性能的影响 | 第110-113页 |
| 5.3.4 PMPURPAS用量对ALSR阻燃性能的影响 | 第113-116页 |
| 5.3.5 PMPURPAS用量对ALSR热稳定性能的影响 | 第116-120页 |
| 5.4 本章小结 | 第120-121页 |
| 第六章 含乙内酰脲基和氨酯基硅烷的合成及其对ALSR性能的影响 | 第121-138页 |
| 6.1 引言 | 第121-122页 |
| 6.2 实验部分 | 第122-125页 |
| 6.2.1 主要原料 | 第122页 |
| 6.2.2 仪器与设备 | 第122页 |
| 6.2.3 含乙内酰脲基和氨酯基硅烷的合成及ALSR样品的制备 | 第122-124页 |
| 6.2.4 测试与表征 | 第124-125页 |
| 6.3 结果与讨论 | 第125-137页 |
| 6.3.1 DMHURPAS的结构表征 | 第125-127页 |
| 6.3.2 DMHURPAS用量对ALSR力学性能的影响 | 第127-128页 |
| 6.3.3 DMHURPAS用量对ALSR耐漏电起痕性能的影响 | 第128-131页 |
| 6.3.4 DMHURPAS用量对ALSR热稳定性能的影响 | 第131-135页 |
| 6.3.5 抗菌性能 | 第135-137页 |
| 6.4 本章小结 | 第137-138页 |
| 结论 | 第138-140页 |
| 参考文献 | 第140-154页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第154-156页 |
| 致谢 | 第156-157页 |
| 附件 | 第157页 |
