WDM模块插卡式测试系统的设计与应用
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
1 绪论 | 第8-18页 |
1.1 光通信的发展 | 第8-12页 |
1.1.1 光纤通信的历史和现状 | 第8-10页 |
1.1.2 WDM技术的特点和优势 | 第10-11页 |
1.1.3 WDM技术的现状 | 第11-12页 |
1.2 波分复用器件和插卡式测试系统 | 第12-17页 |
1.2.1 波分复用系统中的波分复用器件 | 第12-14页 |
1.2.2 波分复用器件性能指标 | 第14-15页 |
1.2.3 测试系统现状 | 第15-17页 |
1.3 本课题目标和论文主要内容 | 第17-18页 |
2 WDM模块的指标和传统测试方法 | 第18-24页 |
2.1 测试系统指标 | 第18-19页 |
2.2 传统测试系统 | 第19-22页 |
2.2.1 传统测试系统的结构和工作原理 | 第19-22页 |
2.2.2 传统测试系统的特点 | 第22页 |
2.3 本章小结 | 第22-24页 |
3 WDM模块插卡式测试系统总体设计 | 第24-33页 |
3.1 插卡式测试系统的工作原理 | 第24-27页 |
3.1.1 系统的结构 | 第24-25页 |
3.1.2 系统的工作过程 | 第25-26页 |
3.1.3 系统的特点 | 第26-27页 |
3.2 单盘的总体控制 | 第27-28页 |
3.3 单盘的功能与总体设计 | 第28-32页 |
3.3.1 功能单盘 | 第28-29页 |
3.3.2 光功率计单盘 | 第29-30页 |
3.3.3 光开关单盘 | 第30-31页 |
3.3.4 光衰减器单盘 | 第31-32页 |
3.4 本章小结 | 第32-33页 |
4 插卡式测试系统的单盘设计 | 第33-46页 |
4.1 光功率计单盘的设计 | 第33-41页 |
4.1.1 连接器和背板 | 第33-34页 |
4.1.2 主控芯片部分和面板指示灯部分 | 第34-35页 |
4.1.3 网口部分 | 第35-37页 |
4.1.4 供电和光功率计 | 第37-41页 |
4.2 其它单盘的设计 | 第41-45页 |
4.2.1 光衰减器单盘的设计 | 第41-42页 |
4.2.2 光开关单盘的设计 | 第42-45页 |
4.3 本章小结 | 第45-46页 |
5 插卡式测试系统测试数据分析 | 第46-54页 |
5.1 传统测试系统测试和数据 | 第46-49页 |
5.1.1 测试过程 | 第46-47页 |
5.1.2 测试结果 | 第47-49页 |
5.2 插卡式测试系统测试和数据 | 第49-53页 |
5.2.1 测试过程与结果 | 第49-51页 |
5.2.2 测试结果分析 | 第51-53页 |
5.3 本章小结 | 第53-54页 |
6 总结与展望 | 第54-56页 |
6.1 本文的工作与创新点 | 第54-55页 |
6.2 本文不足之处 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
附录1攻读硕士学位期间参与的项目和发表的论文 | 第60-61页 |
附录2主要英文缩写语对照表 | 第61页 |