| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-11页 |
| 1.3 研究内容 | 第11-14页 |
| 1.3.1 多径信号特性分析及其对接收机测距性能的影响 | 第11页 |
| 1.3.2 抗多径天线技术 | 第11页 |
| 1.3.3 抗多径算法 | 第11-12页 |
| 1.3.4 抗多径性能测试评估手段 | 第12-14页 |
| 第二章 多径信号特性分析及其对接收机测距性能的影响 | 第14-24页 |
| 2.1 引言 | 第14页 |
| 2.2 多径信号特性分析 | 第14-19页 |
| 2.2.1 多径信号的分类及模型 | 第14-16页 |
| 2.2.2 多径信号极化状态分析 | 第16-19页 |
| 2.3 多径信号对接收机测距性能的影响 | 第19-23页 |
| 2.3.1 多径信号对自相关函数的影响 | 第19-20页 |
| 2.3.2 多径信号对码延迟锁定环的影响 | 第20-23页 |
| 2.4 小结 | 第23-24页 |
| 第三章 抗多径天线技术 | 第24-36页 |
| 3.1 引言 | 第24页 |
| 3.2 天线性能对多径信号的影响 | 第24-28页 |
| 3.2.1 天线轴比性能对多径信号的影响 | 第24-26页 |
| 3.2.2 天线增益方向图对多径信号的影响 | 第26-27页 |
| 3.2.3 天线扼流圈技术对多径信号的影响 | 第27-28页 |
| 3.3 天线辐射体技术研究 | 第28-30页 |
| 3.3.1 天线辐射体选取原则 | 第28页 |
| 3.3.2 谐振式四臂螺旋天线 | 第28-30页 |
| 3.4 扼流圈技术研究 | 第30-32页 |
| 3.4.1 扼流圈尺寸选取原则 | 第30-32页 |
| 3.4.2 工程实现 | 第32页 |
| 3.5 测试及验证 | 第32-35页 |
| 3.5.1 微波暗室测试 | 第32-34页 |
| 3.5.2 实际接收卫星信号测试 | 第34-35页 |
| 3.6 小结 | 第35-36页 |
| 第四章 抗多径算法 | 第36-62页 |
| 4.1 引言 | 第36页 |
| 4.2 多径干扰检测和抑制方法研究 | 第36-39页 |
| 4.2.1 窄相关器技术 | 第36页 |
| 4.2.2 多径消除技术（MET） | 第36-37页 |
| 4.2.3 多径估计延迟锁定环（MEDLL） | 第37页 |
| 4.2.4 脉冲间隙相关器技术(PAC) | 第37页 |
| 4.2.5 Vision相关器 | 第37-38页 |
| 4.2.6 修正相关器参考波形法 | 第38页 |
| 4.2.7 前沿技术 | 第38页 |
| 4.2.8 基于码滤波的多径效应抑制技术 | 第38-39页 |
| 4.3 基于序列相关器的多径检测和消除技术研究 | 第39-50页 |
| 4.3.1 基准相关曲线模型的建立 | 第39-42页 |
| 4.3.2 序列相关器的结构 | 第42页 |
| 4.3.3 序列相关器多径消除技术 | 第42-46页 |
| 4.3.4 多径检测效果和多径抑制能力测试 | 第46-50页 |
| 4.4 延迟锁定环补偿技术 | 第50-60页 |
| 4.4.1 延迟锁定环补偿技术原理 | 第50-51页 |
| 4.4.2 仿真结果 | 第51-56页 |
| 4.4.3 测试结果 | 第56-60页 |
| 4.5 小结 | 第60-62页 |
| 第五章 抗多径性能测试评估手段 | 第62-76页 |
| 5.1 引言 | 第62页 |
| 5.2 多径环境软件仿真系统 | 第62-68页 |
| 5.2.1 多径环境软件仿真系统组成及功能 | 第62-63页 |
| 5.2.2 多径环境下接收机抗多径技术仿真研究设计 | 第63-65页 |
| 5.2.3 解决的主要技术 | 第65-66页 |
| 5.2.4 仿真软件构建 | 第66-68页 |
| 5.2.5 仿真试验情况 | 第68页 |
| 5.3 抗多径测试实验室构建方法 | 第68-74页 |
| 5.3.1 抗多径测试实验室方案 | 第69-72页 |
| 5.3.2 抗多径性能评估方法 | 第72-74页 |
| 5.4 小结 | 第74-76页 |
| 第六章 结束语 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 研究成果 | 第84-85页 |
