| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 引言 | 第7-17页 |
| 1.1 FPGA概述 | 第7-13页 |
| 1.1.1 FPGA发展概述 | 第7-8页 |
| 1.1.2 FPGA开发设计流程 | 第8-10页 |
| 1.1.3 FPGA芯片测试 | 第10-13页 |
| 1.2 研究动机与目标 | 第13-14页 |
| 1.3 本文的工作主要工作 | 第14-15页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第15-17页 |
| 第二章 研究背景 | 第17-34页 |
| 2.1 FPGA硬件结构 | 第17-18页 |
| 2.2 FPGA芯片开关参数测试方法研究现状 | 第18-30页 |
| 2.2.1 高速示波器观测法 | 第19页 |
| 2.2.2 环路振荡法 | 第19-22页 |
| 2.2.3 采用时间数字转换器法 | 第22-30页 |
| 2.2.4 测试方法总结 | 第30页 |
| 2.3 采用TDC测量开关参数的现状研究 | 第30-33页 |
| 2.3.1 基于FPGA的TDC测量开关参数存在的问题 | 第31页 |
| 2.3.2 提高分辨率的解决方案 | 第31-32页 |
| 2.3.3 提高温度变化下测量准确度的解决方案 | 第32-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 高分辨率TDC结构设计 | 第34-40页 |
| 3.1 延时单元数量选择 | 第34页 |
| 3.2 时单元的连接 | 第34-36页 |
| 3.3 时间内插延迟链的驱动方式 | 第36-37页 |
| 3.4 捕捉延迟链信息的方法 | 第37-38页 |
| 3.5 转换电路 | 第38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 测量准确性不随温度变化的TDC结构设计 | 第40-54页 |
| 4.1 VLSI系统中的时钟问题 | 第41-43页 |
| 4.1.1 时钟偏差 | 第42-43页 |
| 4.1.2 时钟抖动 | 第43页 |
| 4.2 DLL基本结构分析 | 第43-46页 |
| 4.2.1 压控延时线 | 第43-45页 |
| 4.2.2 鉴相器(Phase Detector) | 第45页 |
| 4.2.3 电荷泵(Charge bump) | 第45页 |
| 4.2.4 低通滤波器 | 第45-46页 |
| 4.3 全数字设计的DLL结构 | 第46-52页 |
| 4.3.1 可调延迟线 | 第46-47页 |
| 4.3.2 鉴相器 | 第47-52页 |
| 4.3.3 计数控制电路 | 第52页 |
| 4.4 计数器的设计 | 第52-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 整体电路测试仿真结果与分析 | 第54-64页 |
| 5.1 延时单元的电路仿真 | 第54-56页 |
| 5.2 测量准确度不随温度变化TDC结构仿真 | 第56-62页 |
| 5.2.1 全数字设计DLL电路仿真 | 第56-59页 |
| 5.2.2 带DLL反馈的延迟内插法TDC电路仿真 | 第59-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-64页 |
| 第六章 FPGA开关参数的测量 | 第64-101页 |
| 6.1 利用TDC方法测试FPGA开关参数 | 第64-66页 |
| 6.1.1 开关参数的路径选择 | 第64-65页 |
| 6.1.2 开关参数延时路径与TDC的连接 | 第65-66页 |
| 6.2 利用环路振荡法测量FPGA开关参数 | 第66-67页 |
| 6.3 测试的开关参数 | 第67-90页 |
| 6.3.1 4输入功能：F/G输入到X/Y输出T_(ILO) | 第67-69页 |
| 6.3.2 5输入功能：F/G输入到X输出T_(IF5X) | 第69-71页 |
| 6.3.3 6输入功能：F/G输入到Y输出通过F6MUX T_(IF6Y) | 第71-73页 |
| 6.3.4 F基数输入到X通过XOR T_(OPX) | 第73-75页 |
| 6.3.5 F基数输入到YB输出T_(OPYB) | 第75-77页 |
| 6.3.6 F函数输入到XB输出T_(OPXB) | 第77-79页 |
| 6.3.7 F数输入到Y通过XOR T_(OPY) | 第79-81页 |
| 6.3.8 G函数输入到Y通过XOR T_(OPGY) | 第81-83页 |
| 6.3.9 G函数输入到YB输出T_(OPGYB) | 第83-85页 |
| 6.3.10 F1/2函数输入到XB输出通过AND T_(FANDXB) | 第85-87页 |
| 6.3.11 F1/2函数输入到YB输出通过AND T_(FANDYB) | 第87-89页 |
| 6.3.12 G1/2函数输入到YB输出通过AND T_(GANDYB) | 第89-90页 |
| 6.4 测试说明和误差分析 | 第90-97页 |
| 6.4.1 环路振荡法 | 第90-93页 |
| 6.4.2 TDC测试 | 第93-97页 |
| 6.5 数据对比分析 | 第97-100页 |
| 6.6 本章小结 | 第100-101页 |
| 第七章 总结与展望 | 第101-103页 |
| 7.1 论文总结 | 第101-102页 |
| 7.2 创新点总结 | 第102页 |
| 7.3 论文展望 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-107页 |
