中文摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
符号说明 | 第9-10页 |
第一章 前言 | 第10-18页 |
1.1 分子印迹技术的基本原理 | 第10-11页 |
1.2 双模板分子印迹技术 | 第11-13页 |
1.3 提高MIPs印迹效果的两种新方法 | 第13-16页 |
1.3.1 引入金属离子作为桥接剂 | 第13-15页 |
1.3.2 引入液晶单体降低交联度 | 第15-16页 |
1.4 选题意义及研究内容 | 第16-18页 |
第二章 金属离子介导的双模板分子印迹整体柱的制备和评价 | 第18-38页 |
2.1 引言 | 第18-19页 |
2.2 试剂及仪器 | 第19-21页 |
2.2.1 仪器 | 第19-20页 |
2.2.2 试剂 | 第20-21页 |
2.3 实验部分 | 第21-24页 |
2.3.1 整体柱合成操作步骤 | 第21-22页 |
2.3.2 整体柱制备条件优化 | 第22-23页 |
2.3.3 双模板分子印迹整体柱色谱条件考察 | 第23-24页 |
2.4 结果与讨论 | 第24-36页 |
2.4.1 整体柱制备参数研究 | 第24-31页 |
2.4.1.1 S-NAP与KET不同比例整体柱的制备 | 第24-26页 |
2.4.1.2 模板与单体比例变化对印迹效果的影响 | 第26-28页 |
2.4.1.3 功能单体与交联剂比例对印迹效果的影响 | 第28-29页 |
2.4.1.4 不同金属离子对印迹效果的影响 | 第29-30页 |
2.4.1.5 双模板与单模板柱印迹效果的比较 | 第30-31页 |
2.4.2 双模板分子印迹整体柱色谱参数研究 | 第31-36页 |
2.4.2.1 流动相乙腈含量对色谱保留的影响 | 第31-32页 |
2.4.2.2 流动相pH值对色谱保留的影响 | 第32-33页 |
2.4.2.3 温度对色谱保留的影响 | 第33-36页 |
2.4.2.4 快分离实验 | 第36页 |
2.5 小结 | 第36-38页 |
第三章 基于手性掺杂剂的液晶分子印迹整体柱的制备和评价 | 第38-60页 |
3.1 引言 | 第38-39页 |
3.2 试剂及仪器 | 第39-40页 |
3.2.1 仪器 | 第39页 |
3.2.2 试剂 | 第39-40页 |
3.3 实验部分 | 第40-45页 |
3.3.1 骨架材料的制备 | 第40-42页 |
3.3.2 接枝MIPs的制备 | 第42页 |
3.3.3 整体柱制备条件考察 | 第42-45页 |
3.4 结果与讨论 | 第45-59页 |
3.4.1 手性掺杂剂对液晶分子印迹整体柱的影响 | 第45-46页 |
3.4.2 交联度对分子印迹整体柱的影响 | 第46-47页 |
3.4.3 模板与手性掺杂剂的比例对分子印迹整体柱的影响 | 第47-48页 |
3.4.4 不同的手性掺杂剂对分子印迹整体柱的影响 | 第48-50页 |
3.4.5 分子印迹整体柱的前沿色谱分析 | 第50-52页 |
3.4.5.1 动态结合能力 | 第50-51页 |
3.4.5.2 Scatchard分析 | 第51-52页 |
3.4.6 分子印迹整体柱的计量置换分析 | 第52-55页 |
3.4.7 柱温对保留的影响 | 第55-58页 |
3.4.8 分子印迹整体柱应用于快速分离 | 第58-59页 |
3.5 小结 | 第59-60页 |
结论 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-71页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第71-72页 |
综述 | 第72-90页 |
综述参考文献 | 第85-90页 |
致谢 | 第90页 |