高精度光时域反射仪的硬件设计与研制
摘要 | 第3-5页 |
ABSTRACT | 第5-7页 |
第一章 绪论 | 第11-21页 |
1.1 研究背景与意义 | 第11-13页 |
1.2 光纤故障分类及其检测方法 | 第13-14页 |
1.2.1 光纤故障分类 | 第13-14页 |
1.2.2 检测方法 | 第14页 |
1.3 光时域反射仪研究现状分析 | 第14-18页 |
1.3.1 脉冲光时域反射仪 | 第15页 |
1.3.2 光子计数光时域反射仪 | 第15-16页 |
1.3.3 相干光时域反射仪 | 第16-17页 |
1.3.4 混沌相关法光时域反射仪 | 第17-18页 |
1.4 本文的研究内容及文章结构 | 第18-21页 |
第二章 高精度光时域反射仪检测原理及样机总体设计 | 第21-29页 |
2.1 高精度光时域反射仪检测原理 | 第21-25页 |
2.1.1 光纤损耗 | 第21-22页 |
2.1.2 瑞利散射 | 第22-23页 |
2.1.3 菲涅尔反射 | 第23-24页 |
2.1.4 混沌相关法测距技术 | 第24-25页 |
2.2 样机总体设计 | 第25-28页 |
2.2.1 检测系统分析 | 第26页 |
2.2.2 核心模块介绍 | 第26-28页 |
2.3 本章小结 | 第28-29页 |
第三章 光源模块的设计与研制 | 第29-55页 |
3.1 CPLD信号源设计 | 第29-39页 |
3.1.1 芯片的选择 | 第30-32页 |
3.1.2 混沌、脉冲信号的产生原理 | 第32-35页 |
3.1.3 硬件电路设计 | 第35-37页 |
3.1.4 混沌、脉冲电信号测试 | 第37-39页 |
3.2 激光器直调电路设计 | 第39-50页 |
3.2.1 激光器的分类及特性分析 | 第39-42页 |
3.2.2 激光器的选型 | 第42-44页 |
3.2.3 供电电路 | 第44-45页 |
3.2.4 可调节电流源 | 第45-46页 |
3.2.5 射频放大电路 | 第46-48页 |
3.2.6 偏置电路(Bias-Tee) | 第48-49页 |
3.2.7 脉冲光调制电路 | 第49-50页 |
3.3 其余电路设计 | 第50-51页 |
3.3.1 红光校准电路 | 第50页 |
3.3.2 RS232转USB电路 | 第50-51页 |
3.4 混沌、脉冲激光信号测试 | 第51-53页 |
3.5 本章小结 | 第53-55页 |
第四章 光纤故障检测实验及结果分析 | 第55-65页 |
4.1 实验装置 | 第55-56页 |
4.2 混沌光故障检测及特性分析 | 第56-61页 |
4.2.1 故障点分析及最远测距 | 第57-59页 |
4.2.2 空间分辨率 | 第59-60页 |
4.2.3 密集反射事件检测 | 第60-61页 |
4.3 脉冲光故障检测及特性分析 | 第61-63页 |
4.3.1 衰减损耗检测 | 第61-62页 |
4.3.2 脉冲故障诊断及对比实验 | 第62-63页 |
4.4 本章小结 | 第63-65页 |
第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
5.1 论文工作总结 | 第65-66页 |
5.2 工作展望 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
致谢 | 第71-73页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文与所取得成果 | 第73页 |