合成孔径射电成像中电离层扰动的校正方法研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-14页 |
·射电天文简介 | 第7-8页 |
·电离层对射电天文观测的影响 | 第8-10页 |
·电离层简介 | 第8-9页 |
·电离层的影响 | 第9-10页 |
·课题的相关背景和意义 | 第10-12页 |
·21CMA 项目[2] | 第10-11页 |
·本文的研究方向 | 第11-12页 |
·论文的主要内容与章 节安排 | 第12-14页 |
·论文的主要内容 | 第12-13页 |
·章节安排 | 第13-14页 |
第二章 射电望远镜原理 | 第14-24页 |
·几个基本概念 | 第14页 |
·连续孔径射电望远镜原理 | 第14-16页 |
·射电干涉仪和孔径综合 | 第16-22页 |
·相干函数 | 第16-17页 |
·由相干函数得到强度分布 | 第17-19页 |
·二元干涉仪 | 第19-21页 |
·孔径综合 | 第21-22页 |
·本章小结 | 第22-24页 |
第三章 传统方法介绍和比较 | 第24-32页 |
·电离层对可见度函数相位的影响 | 第24-25页 |
·传统方法简介 | 第25-30页 |
·电离层模型法[5,6] | 第25-26页 |
·双频法[8] | 第26-27页 |
·标准源校准法[9,10] | 第27页 |
·统计方法反推断[12] | 第27-28页 |
·软件处理方法(Clean 等) | 第28-29页 |
·掩星反演[13] | 第29-30页 |
·最小熵方法与传统方法的比较 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第四章 最小熵方法 | 第32-57页 |
·相位校正模型 | 第32-33页 |
·最小熵方法原理 | 第33-41页 |
·熵的引入 | 第33页 |
·熵作为图像尖锐性的测度 | 第33-38页 |
·脏图 | 第38页 |
·?? m 的校正[18] | 第38-40页 |
·?? n 的校正 | 第40-41页 |
·最小熵方法算法 | 第41-43页 |
·编程工具和平台 | 第43-44页 |
·实验结果 | 第44-54页 |
·不同相位误差阈值下的结果 | 第44-50页 |
·以分割方式进一步校正相位误差 | 第50-54页 |
·实验结果分析与讨论 | 第54-55页 |
·主观评价 | 第54-55页 |
·客观评价 | 第55页 |
·本章小结 | 第55-57页 |
第五章 结束语 | 第57-59页 |
·主要工作与创新点 | 第57-58页 |
·后续研究工作 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第61-62页 |
附件 | 第62-64页 |