| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-26页 |
| 1.1 选题的背景与意义 | 第14页 |
| 1.2 国内外研究现状分析 | 第14-24页 |
| 1.2.1 电参量测试仪的研究现状与发展趋势 | 第14-16页 |
| 1.2.2 LXI总线的国内外研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.2.1 LXI总线的发展历程 | 第16-17页 |
| 1.2.2.2 LXI总线的特点 | 第17页 |
| 1.2.2.3 LXI仪器的分类 | 第17-18页 |
| 1.2.2.4 LXI总线的应用 | 第18-19页 |
| 1.2.3 SCPI命令的国内外研究现状 | 第19-22页 |
| 1.2.3.1 SCPI命令的概述 | 第19页 |
| 1.2.3.2 SCPI命令的发展历史 | 第19-20页 |
| 1.2.3.3 SCPI仪器的模型 | 第20页 |
| 1.2.3.4 SCPI命令的语法和格式 | 第20-21页 |
| 1.2.3.5 SCPI命令的解析方法研究现状 | 第21-22页 |
| 1.2.4 电磁兼容性的国内外研究现状 | 第22-23页 |
| 1.2.4.1 电磁兼容的基本概念 | 第22-23页 |
| 1.2.5 存在的问题及分析 | 第23-24页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第24页 |
| 1.4 本文的创新点 | 第24-26页 |
| 第二章 多功能电参量测试仪的硬件电路设计 | 第26-34页 |
| 2.1 引言 | 第26页 |
| 2.2 电压输入信号调理电路 | 第26-27页 |
| 2.3 电流输入信号调理电路 | 第27-28页 |
| 2.4 功率测量电路 | 第28页 |
| 2.5 有效值转换电路 | 第28-29页 |
| 2.6 模数转换电路 | 第29-30页 |
| 2.7 主控制芯片的选择 | 第30-31页 |
| 2.8 LXI接口电路 | 第31-33页 |
| 2.8.1 LXI接口电路总体结构 | 第31-32页 |
| 2.8.2 LXI接口电路设计 | 第32-33页 |
| 2.8.2.1 防护芯片介绍 | 第32-33页 |
| 2.9 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 多功能参量测试仪的LXI接口软件设计 | 第34-46页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 LXI总线接口软件结构 | 第34-35页 |
| 3.3 单片机的串行通信程序 | 第35-42页 |
| 3.3.1 单片机的串行口初始化 | 第35-36页 |
| 3.3.2 单片机的命令接收程序设计 | 第36-37页 |
| 3.3.3 单片机的发送程序设计 | 第37页 |
| 3.3.4 单片机的的SCPI命令解析模块 | 第37-42页 |
| 3.3.4.1 测试仪的SCPI命令集设计 | 第37-39页 |
| 3.3.4.2 SCPI命令解析程序设计 | 第39-42页 |
| 3.4 测试仪的通信功能及技术指标测试 | 第42-44页 |
| 3.4.1 测试仪的技术指标要求 | 第42页 |
| 3.4.2 测试仪的技术指标与LXI总线通信功能测试 | 第42页 |
| 3.4.3 测试仪的指标测试结果与分析 | 第42-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 多功能电参量测试仪的电磁兼容性试验 | 第46-58页 |
| 4.1 引言 | 第46页 |
| 4.2 国内外相关EMC标准 | 第46-47页 |
| 4.3 三种瞬态电磁干扰的特点 | 第47-49页 |
| 4.3.1. EFT的特点 | 第47-48页 |
| 4.3.2 浪涌的特点 | 第48页 |
| 4.3.3 ESD干扰的特点 | 第48-49页 |
| 4.4 测试仪的电磁抗干扰电路设计 | 第49-51页 |
| 4.4.1 三种瞬态电磁干扰的耦合途径和常用保护措施 | 第49-50页 |
| 4.4.2 多功能电参量测试的抗干扰电路设计 | 第50-51页 |
| 4.5 测试仪的电磁兼容性试验 | 第51-57页 |
| 4.5.1 EFT抗扰度试验 | 第51-53页 |
| 4.5.1.1 EFT试验系统的设计 | 第51-52页 |
| 4.5.1.2 EFT抗扰度试验结果与分析 | 第52-53页 |
| 4.5.2 浪涌抗扰度试验 | 第53-55页 |
| 4.5.2.1 浪涌抗扰度试验系统的设计 | 第53-54页 |
| 4.5.2.2 浪涌抗扰度试验结果与分析 | 第54-55页 |
| 4.5.3 ESD抗扰度试验 | 第55-57页 |
| 4.5.3.1 ESD抗扰度试验系统的设计 | 第55-56页 |
| 4.5.3.2 ESD抗扰度结果与分析 | 第56-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 结论及展望 | 第58-60页 |
| 5.1 结论 | 第58页 |
| 5.2 展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第66-68页 |
| 作者与导师简介 | 第68-70页 |
| 附件 | 第70-71页 |