| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-21页 |
| ·时间投影室 | 第9-12页 |
| ·TPC的工作原理 | 第9-11页 |
| ·TPC读出探测器 | 第11-12页 |
| ·GEM探测器 | 第12-17页 |
| ·GEM膜的介绍 | 第12-13页 |
| ·GEM探测器的工作原理 | 第13-14页 |
| ·GEM探测器系统的组成 | 第14-15页 |
| ·探测器性能 | 第15-17页 |
| ·选题背景及意义 | 第17-20页 |
| ·TU-TPC原型机系统 | 第17-19页 |
| ·TU-TPC读出电子学系统 | 第19-20页 |
| ·论文工作的主要内容 | 第20-21页 |
| 第2章 TU-TPC数据采集系统 | 第21-36页 |
| ·ALICE TPC电子学系统 | 第21-24页 |
| ·前端数据采集卡(Front End Card,FEC) | 第21-23页 |
| ·读出控制单元(Readout Control Unit,RCU) | 第23-24页 |
| ·TU-TPC原型机电子学系统 | 第24-29页 |
| ·前置放大器 | 第25-26页 |
| ·电荷/时间测量(MQT)插件 | 第26-28页 |
| ·读出控制(MROC)插件 | 第28-29页 |
| ·MCLF(标准刻度、逻辑控制和扇出)插件 | 第29页 |
| ·TU-TPC数据获取及监控软件 | 第29-31页 |
| ·电子学系统测试 | 第31-35页 |
| ·电子学系统性能测试 | 第31-34页 |
| ·TPC与电子学系统联调 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第3章 TU-TPC数据获取系统的改造及测试 | 第36-48页 |
| ·ALICE-TPC中的数字信号处理 | 第36-41页 |
| ·一级基线校正 | 第36-38页 |
| ·截除信号尾部 | 第38-39页 |
| ·二级基线校正 | 第39-41页 |
| ·清华大学GEM-TPC数据获取系统的改造及测试 | 第41-47页 |
| ·数据获取能力计算 | 第41-43页 |
| ·数据获取系统的改造 | 第43-45页 |
| ·数据获取系统测试 | 第45-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第4章 GEM-TPC径迹重建方法的研究 | 第48-60页 |
| ·ROOT数据分析软件简介 | 第48-52页 |
| ·ROOT文件系统 | 第48-49页 |
| ·ROOT类结构 | 第49-50页 |
| ·ROOT软件的应用 | 第50-52页 |
| ·LCIO软件框架简介(Linear Collider IO,LCIO) | 第52-54页 |
| ·LCIO数据模型 | 第52-53页 |
| ·LCIO文件的读写方法 | 第53-54页 |
| ·Doublefit程序简介 | 第54-58页 |
| ·ClusterFinder模块 | 第55-57页 |
| ·TrackFinder模块 | 第57-58页 |
| ·TrackFitter模块 | 第58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第5章 TU-TPC系统性能分析 | 第60-66页 |
| ·横向扩散常数 | 第60-61页 |
| ·X方向的位置分辨率 | 第61-64页 |
| ·有效电子数Neff的测量 | 第64页 |
| ·Z方向的位置分辨率 | 第64-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第6章 结论与展望 | 第66-68页 |
| ·结论 | 第66-67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第71页 |
