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量子点中的射频测量

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第11-25页
    1.1 研究背景第11-15页
        1.1.1 量子计算简介第11-14页
        1.1.2 基于半导体的量子计算体系第14-15页
    1.2 半导体门控量子点第15-19页
        1.2.1 门控量子点第15-16页
        1.2.2 单量子点的基本理论:常相互作用模型第16-19页
    1.3 本章小结第19-20页
    参考文献第20-25页
第2章 量子点样品的测量第25-35页
    2.1 低温平台及测量系统第25-29页
        2.1.1 液氦测量平台第25-26页
        2.1.2 He3制冷机第26-27页
        2.1.3 干式稀释制冷机第27-29页
    2.2 量子点测量常用方式第29-32页
    2.3 本章小结第32-33页
    参考文献第33-35页
第3章 射频反射式测量第35-61页
    3.1 射频反射式测量基本原理第35-40页
        3.1.1 传统测量方式的局限第35-36页
        3.1.2 射频反射式测量基本原理及性质第36-39页
        3.1.3 零拍测量:信号的调制解调第39-40页
    3.2 射频反射式的测量系统第40-43页
    3.3 量子点中的各种射频探测器第43-54页
        3.3.1 砷化镓量子点中的测量第43-47页
        3.3.2 石墨烯量子点中的测量第47-51页
        3.3.3 砷化镓量子点中的射频电极探测器第51-54页
    3.4 谐振电路的模拟和优化第54-57页
    3.5 本章小结第57-59页
    参考文献第59-61页
第4章 射频反射式测量的应用第61-71页
    4.1 Rapid Measurement快速测量第61-63页
    4.2 Multiplex Readout多信道同时读出第63-67页
    4.3 本章小结第67-69页
    参考文献第69-71页
第5章 总结与展望第71-75页
    5.1 总结第71-72页
    5.2 展望第72-74页
    参考文献第74-75页
附录A 样品加工与制备第75-83页
    A.1 微纳加工工艺及仪器第75-80页
    A.2 量子点加工基本流程第80-82页
    A.3 小结第82-83页
附录B 经典射频反射式实验的参数对比第83-84页
对应的参考文献第84-85页
致谢第85-87页
攻读博士学位期间发表的学术论文第87页

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