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基于稀疏表达的强反射表面高光抑制方法研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-16页
    1.1 研究背景及意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状及分析第11-14页
        1.2.1 基于软件处理的高光抑制方法第11-13页
        1.2.2 基于硬件处理的高光抑制方法第13-14页
    1.3 存在的问题和发展第14-15页
    1.4 本文主要的研究内容第15-16页
第2章 实验总体方案设计第16-25页
    2.1 结构光三维测量方法第16-20页
        2.1.1 结构光三维测量原理第16-17页
        2.1.2 数学模型建立第17-20页
    2.2 三维检测实验平台设计第20-23页
        2.2.1 系统总体方案设计第20-21页
        2.2.2 系统配置第21-22页
        2.2.3 编码光选取第22-23页
        2.2.4 实验平台搭建第23页
    2.3 本章小结第23-25页
第3章 基于SAIST稀疏表达的高光抑制方法研究第25-37页
    3.1 稀疏表达的数学基础第25-28页
        3.1.1 从逼近论到过冗余稀疏表示第25-27页
        3.1.2 稀疏性的度量第27-28页
    3.2 稀疏分解经典方法第28-31页
        3.2.1 贪婪算法第28-31页
        3.2.2 基追踪第31页
    3.3 基于SAIST稀疏表达高光抑制方法研究第31-36页
        3.3.1 算法迭代模型第32-34页
        3.3.2 基于SAIST的高光图像修复第34-36页
    3.4 本章小结第36-37页
第4章 实验结果与分析第37-50页
    4.1 高光抑制对比实验第37-41页
        4.1.1 均衡化修正法第37-38页
        4.1.2 一致性敏感哈希算法第38-41页
    4.2 基于SAIST稀疏表达算法的高光抑制结果第41-45页
    4.3 重构与实验数据定量分析第45-49页
    4.4 本章小结第49-50页
结论第50-51页
参考文献第51-57页
攻读硕士学位期间发表的学术论文第57-58页
致谢第58页

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