基于氧化锌纳米晶的紫外光电器件研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-13页 |
| 一、研究背景及意义 | 第7-8页 |
| (一) 半导体的发展历史 | 第7页 |
| (二) ZnO基材料的基本性质 | 第7-8页 |
| 二、ZnO紫外光电器件的研究进展 | 第8-13页 |
| (一) 紫外光的简介 | 第8页 |
| (二) 光电探测器的工作原理及相关参数 | 第8-9页 |
| (三) 光电探测器的类型简介 | 第9-11页 |
| (四) ZnO紫外探测器件的研究现状 | 第11-12页 |
| (五) ZnO紫外发光器件的研究进展 | 第12-13页 |
| 第二章 氧化锌基紫外光电器件制备方法及表征手段 | 第13-19页 |
| 一、ZnO薄膜的制备技术 | 第13-15页 |
| (一) 溶胶凝胶法 | 第13-14页 |
| (二) 溶胶凝胶法的优缺点 | 第14-15页 |
| 二、薄膜性质的表征手段 | 第15-18页 |
| (一) X射线衍射谱 | 第15-16页 |
| (二) 扫描电子显微镜 | 第16-17页 |
| (三) 微区光致发光谱 | 第17页 |
| (四) 透射-吸收光谱 | 第17页 |
| (五) 霍尔效应 | 第17-18页 |
| 三、紫外光电探测器性能测试手段 | 第18-19页 |
| (一) 光谱响应测试系统、 | 第18页 |
| (二) 瞬态响应测量系统 | 第18-19页 |
| 第三章 快速响应的氧化锌纳米晶紫外探测器研究 | 第19-26页 |
| 一、氧化锌紫外探测器的研究背景 | 第19页 |
| 二、薄膜的制备过程 | 第19-20页 |
| 三、Au/ZnO/Au紫外探测器研究 | 第20-25页 |
| 四、小结 | 第25-26页 |
| 第四章 氧化锌纳米晶紫外发光器件研究 | 第26-30页 |
| 一、氧化锌紫外发光器件的研究背景 | 第26页 |
| 二、薄膜的制备过程 | 第26-27页 |
| 三、Au/ZnO/Au紫外发光器件研究 | 第27-29页 |
| 四、小结 | 第29-30页 |
| 结论 | 第30-31页 |
| 参考文献 | 第31-34页 |
| 个人简历和学术论文发表及获奖情况 | 第34-35页 |
| 致谢 | 第35页 |
