| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·钙钛矿型锰氧化物的研究进展 | 第10-12页 |
| ·本文研究目的和主要研究内容 | 第12-14页 |
| 2 样品的制备方法、测量原理 | 第14-20页 |
| ·样品的制备 | 第14-15页 |
| ·高温固相反应法简介 | 第14-15页 |
| ·X射线衍射技术的基本原理 | 第15页 |
| ·磁电性质测量原理及方法 | 第15-19页 |
| ·磁电性质测量设备简介 | 第15-16页 |
| ·磁性质测量方法与原理 | 第16-17页 |
| ·输运性质的测量方法与原理 | 第17-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 Nd_(0.5 )Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15)的制备与结构表征 | 第20-26页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·制备所需原料及仪器设备 | 第20-21页 |
| ·实验原料 | 第20页 |
| ·实验仪器设备 | 第20-21页 |
| ·高温固相反应法制备Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15) | 第21-23页 |
| ·Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15)系列样品XRD结构表征 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 4 Ga掺杂对Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15)系列样品磁性质影响的研究 | 第26-34页 |
| ·Ga掺杂对系列样品的磁化强度的影响 | 第26-28页 |
| ·Ga掺杂对系列样品的磁滞回线的影响 | 第28-31页 |
| ·温度对于Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(0.95)Ga_(0.05)O_3的磁滞回线的影响 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 5 Ga掺杂对Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15)系列样品电输运性质影响的研究 | 第34-41页 |
| ·CMR效应及产生机制 | 第34-36页 |
| ·双交换作用 | 第34-35页 |
| ·姜-泰勒效应(Jahn-Teller) | 第35-36页 |
| ·极化子效应 | 第36页 |
| ·Ga掺杂对Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15)系列样品电阻率的影响 | 第36-38页 |
| ·外加磁场为O T和1 T时系列样品的电阻率随温度变化特征 | 第36-37页 |
| ·外加磁场5 T时系列样品的电阻率随温度变化特征 | 第37-38页 |
| ·Nd_(0.5)Ca_(0.5)Mn_(1-x)Ga_xO_3(0≤x≤0.15)系列样品的CMR效应 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 结论 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-45页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第45-46页 |
| 致谢 | 第46-47页 |
